德國sem

1、semlsh德國熱水器好不好用？謝謝

德國沒有這個牌子的熱水器,德國品牌最好的應該是西門子熱水器,你說的這個可能是國產德國貨,哈哈,正尊的應該是美國艾歐史密斯熱水器,英文全稱:A.O.smith

2、最近看到網路上很多討論一家德國廣告公司的廣告投放平台，有詳細的解釋嗎？

有的，最近網路上一直在宣傳的就是來自德國的Avazu艾維邑動公司。Avazu艾維邑動是一家來自德國的全案互聯網廣告公司，屬於Avazu Inc.旗下四個子品牌之一。Avazu艾維邑動提供：SEM搜索引擎營銷、Media Buying媒體購買、以及 網路公關業務。 而你所問的廣告投放平台則是AvazuDSP平台。AvazuDSP——四位一體的整合營銷需求方平台基於個人興趣行為再定向技術基礎，由德國Avazu公司創造的媒介購買投放平台，也是全亞洲領先的廣告投放平台

3、tem和sem的異同比較分析以及 環境掃描電鏡，場發射電鏡與傳統電鏡

TEM和SEM的異同比較分析以及環境掃描電鏡,場發射電鏡與傳統電鏡相比較的技術特點和應用

xrd是x射線衍射，可以分析物相，SEM是掃描電鏡，主要是觀察顯微組織，TEM是透射電鏡，主要觀察超限微結構。AES是指能譜，主要分析濃度分布。STM掃描隧道顯微鏡，也是觀察超微結構的。AFM是原子力顯微鏡，主要是觀察表面形貌用的。

TEM:

透射電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的解析度為0.1～0.2nm，放大倍數為幾萬～百萬倍，用於觀察超微結構，即小於0.2μm、光學顯微鏡下無法看清的結構，又稱「亞顯微結構」。 TEM是德國科學家Ruskahe和Knoll在前人Garbor和Busch的基礎上於1932年發明的。

其他的建議樓主查看文獻啊，文獻上講解都是比較詳細的，百度知道字數有限，只能給你粘貼這么多了

4、怎樣檢驗鏡片是德國蔡司的？

Carl Zeiss 卡爾蔡司 鏡頭 產地差異 AEG AEJ MMG MMJ
轉自 leelinfeng的博客
但凡是發燒Contax
蔡司鏡頭的朋友都會碰到,同樣的規格的鏡頭有AEG MMG AEJ
MMJ等不同的型號。到底選擇哪一款，實在是個令人頭痛的難題。AE鏡和MM鏡比較好理解，AE鏡只能實現光圈優先，而MM即所謂的Multi-
Mode，除了光圈優先，還可以使用速度優先和自動程序功能。G代表德國製造，J當然是代表日本製造了。那麼在具體的成像方面G鏡和J鏡會有不同嗎？雖然官方聲稱二者沒有差別，但是在眾多的發燒友當中卻對這種說法卻是仁者見仁智者見智。德制和日制的區別到底在哪裡？我想是不是可以從以下幾個方面總結總結
1 鏡頭的鍍膜
鏡頭到手，首先注意到的是德版和日版鍍膜區別，這也是被討論的最多的一個話題。一般而言德版的鍍膜大都呈深紫色（亦有虎玻，綠，藍等色彩），而與之相比日版的鏡頭，尤其是廣角鏡頭綠色的鍍膜比較常見。不同規格的鏡頭表現出來不同的鍍膜色彩，相同規格但不同批次的鏡頭仍然表現出不同的鍍膜色彩。蔡司公司T*鍍膜的配方頻繁的變來變去是難以令人想像的，所以我寧願相信鏡片色彩的不同來自於鏡片玻璃材質的不同。另外一種說法是，鍍膜配方雖然相同，但是德版的T*鍍膜比日版的微厚。要做測量很簡單，相信不必動用比如AFM,SEM等昂貴設備，一台簡單的表面形狀測定儀就行了。不過為了這個去刮傷兩只鏡頭似乎有些得不償失。
2 鏡片
傳說以序列號58開頭的鏡頭使用的玻璃和contarex的玻璃一樣。contaflex的鏡頭？玩老頭的發燒友一定非常熟悉了。那個
P85T*1.4，就憑其價格比現在contax的紀念鏡P85/1.2還要貴，其實力可想而知（數量稀少也是原因之一）。玻璃對鏡頭的影響巨大。這一點上德制鏡頭尤其講究。日制鏡頭，一般是先設計再製作。然而玻璃的實際光學參數和設計值是有偏差的，那麼這種偏差對成像的影響也就不可避免了。然而德制鏡頭，尤其是到Apo一級的，比如哈蘇的300/2.8，Planar
55/1.2等，則是首先購進玻璃，測試參數，再根據參數進行鏡頭設計。這種高成本的運作方式雖然保證了鏡頭的質量，但高價和限產也是不可避免的。
從玻璃的煉制角度來講，日本多濕，德國乾燥，那麼在煉制過程中溶解在玻璃中的水分當然是日本玻璃較多。顯然從生產環境上來講，德國產的玻璃在光學性能較為占優。再有，環保玻璃問題。早期的玻璃含鉛，含鉈等鑭系的過渡金屬，對成像有利（比如，氧化鉛可提高光學折射率和色散，氧化砷可澄清氣泡功能等）。保護環境，減輕污染，我是舉雙手雙腳贊成的，但作為一名攝影發燒友，為失去了一批性能優異的光學玻璃而不得不令人扼腕。近期的德國，日本都採用環保玻璃（比如哈蘇德CFI系列鏡頭）。雖然通過新的研發，也取得了不少令人注目的成績，但是，個人認為非環保玻璃的特性至今仍然是無法代替的。想一想當年，蔡司僅僅用5枚鏡片就打造出了P135/2，這是何等的自信和實力！相同規格的蔡司，德版較日版為早，要想擁有非環保玻璃打造的鏡頭，那麼尋找德頭就不可避免了。另外早期德制鏡片側面均未作消光處理，容易殘生迷走光線，在逆光是比較容易吃光，從而降低反差。一說，德鏡偏黃也出於此。日鏡在此方面作了改進，在抗逆光這一條上日鏡占優。
3 光圈結構
這個已經是被談老了的話題。G版鏡頭一般是鋸齒形葉片，光圈收1-2檔的時候，背後有點光源存在的情況下光斑呈鋸齒狀，光圈收到1-2檔以上時鋸齒消失。而
MMJ版的則為標準的8角形結構，從背景的虛化來講無疑是MMJ版更符合現代人的口味。令人不解的是，早期contaflex的鏡頭光圈非常的漂亮，而且並非鋸齒形狀。蔡司為何改弦更張，個中緣由耐人尋味。
4 鏡桶構造
雖然這個話題鮮有人討論，但是，德國和日本的生產觀念在這里卻得到了充分的表現。縱觀蔡司鏡頭，不難發現其中的端倪。一些鏡頭經過從G到J的演變，在外形上已經發生了不小的變化。比如135mmF2.8,
180mmF2.8, 200mmF3.5,
300mmF4四款鏡頭都從胖胖鏡廋身成功,都變得小巧纖細，方便攜帶。另外有一些鏡頭的變化卻不是那麼明顯，要找出它們的區別還是要下一番苦功不可。比如從S-planar
60mm/2.8到Makro-planar
60mm/2.8就至少經歷了3個版本。第一版的SP60是黑屁股，而且附帶有極為優秀的消光筒，第二版還是黑屁股，但是為了節約成本，消光筒被取消；第三版變名Makro-Planar，白屁股，而且尾部的一組鏡片被完全模塊化。這也就是說，日產的MP不可能像SP那樣對鏡頭的參數作精細調節（這種現象在其他鏡頭上也能看得到）。
德鏡給人的感覺是在維持一定的品質的基礎上，上下浮動較大。使用德鏡，有的時候要一比，二比甚至三比，四比才能碰到真神仙。而日鏡成像比較整齊劃一，雖然呵傑出的德鏡相比稍遜一籌，但是仍然保持相當高的水準。從上面的例子不難看出，德鏡部件多，裝配繁瑣，容易出現誤差，但是通過耐心調制可以得到非常好的個體。而日鏡，通過大規模的模塊化，降低成本，提高了效率，品質也得到一定的保障。日本這一招，雖然有偷工減料之嫌，但也是大工業化下的必然產物。其實作為蔡司的粉絲還是應該由衷地感謝這一點。正是由於日產化以後，才大大降低了成本，使蔡司放下高貴的身價，尋常百姓也能一親芳澤。
4 鏡桶構造
雖然這個話題鮮有人討論，但是，德國和日本的生產觀念在這里卻得到了充分的表現。縱觀蔡司鏡頭，不難發現其中的端倪。一些鏡頭經過從G到J的演變，在外形上已經發生了不小的變化。比如135mmF2.8,
180mmF2.8, 200mmF3.5,
300mmF4四款鏡頭都從胖胖鏡廋身成功,都變得小巧纖細，方便攜帶。另外有一些鏡頭的變化卻不是那麼明顯，要找出它們的區別還是要下一番苦功不可。比如從S-planar
60mm/2.8到Makro-planar
60mm/2.8就至少經歷了3個版本。第一版的SP60是黑屁股，而且附帶有極為優秀的消光筒，第二版還是黑屁股，但是為了節約成本，消光筒被取消；第三版變名Makro-Planar，白屁股，而且尾部的一組鏡片被完全模塊化。這也就是說，日產的MP不可能像SP那樣對鏡頭的參數作精細調節（這種現象在其他鏡頭上也能看得到）。
德鏡給人的感覺是在維持一定的品質的基礎上，上下浮動較大。使用德鏡，有的時候要一比，二比甚至三比，四比才能碰到真神仙。而日鏡成像比較整齊劃一，雖然呵傑出的德鏡相比稍遜一籌，但是仍然保持相當高的水準。從上面的例子不難看出，德鏡部件多，裝配繁瑣，容易出現誤差，但是通過耐心調制可以得到非常好的個體。而日鏡，通過大規模的模塊化，降低成本，提高了效率，品質也得到一定的保障。日本這一招，雖然有偷工減料之嫌，但也是大工業化下的必然產物。其實作為蔡司的粉絲還是應該由衷地感謝這一點。正是由於日產化以後，才大大降低了成本，使蔡司放下高貴的身價，尋常百姓也能一親芳澤。

5、納米膠體溶液要做SEM，怎麼制樣

膠體實際能叫做溶液膠體溶液並列都屬於散系其本質區別面溶質（散質）粒徑同膠體指粒徑1-100納米散質溶液於1納米
感覺這樣的提問沒有什麼意義
建議看看書，查查資料

6、PCB鑽孔機德國有哪些品牌

KLING ELMBERG鑽孔機，HITACHI日立鑽孔機，PlUVITEC鑽孔機，德國SCHMOLL鑽孔機，POSOLAX鑽孔機,PCB鑽孔機：
進口： GIGA，瑪尼亞，瑪克，克林保
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7、一個經常演德國納粹軍官的 「光頭」演員叫什麼？

你說的是克里斯頓·伯克！

英文Christian Berkel 

生日1957年10月28日 

性別男

地區德國

星 座：天蠍座

克里斯頓·伯克參與的電影：

《聖安娜的奇跡 Miracle at St. Anna 》 (2008) ...

《刺殺希特勒 Valkyrie 》 (2008) ...Mertz von Quirnheim

《驚懼黑書 Zwartboek 》 (2006) ...General Käutner

《 Sturmflut, Die 》 (2006) ...Innensenator Helmut Schmidt

《 Frage des Gewissens, Eine 》 (2006) ...Martin Beltz

《 Helen, Fred und Ted 》 (2006) ...Eard 'Ted' Fröhlich

《列寧格勒 Leningrad 》 (2006) ...Vinkelmeyer

《空中危機/飛行計劃/三萬尺凶間 Flightplan 》 (2005) ...Mortuary Director

《 "Tatort" Leerstand 》 (2005) ...Doc Decker

《像我們這樣的男人們 Männer wie wir 》 (2004) ...Rudolf

《帝國的毀滅/帝國陷落 Untergang, Der 》 (2004) ...Prof. Dr. Ernst-Günter Schenck

《 Feuer in der Nacht 》 (2004) ...Karl Winkler

《寂靜無聲 Lautlos 》 (2004) ...Lang

《 "Tatort" Teufel im Leib 》 (2004) ...Dr. Alfred Waller

《 "Bella Block" Das Gegenteil von Liebe 》 (2004) ...Thomas Engler

《通行證 Laissez-passer 》 (2002) ...Dr. Greven

《 Doppelter Einsatz - Im Visier der Bestie 》 (2002) ...Sebastian van Leuyen

《 "Affäre Semmeling, Die" 》 (2002) ...Fred Kiefer

《 Unbestechliche, Der 》 (2002) ...Harald Kittler

《 Rosa Roth - Geschlossene Gesellschaft 》 (2002) ...Maiwald

《 Paradies ist eine Falle, Das 》 (2002) ...

《 Unbestechliche, Der 》 (2002) ...Harald Kittler

《 Erste Liebe 》 (2002) ...Rolf Drost

《死亡實驗 Experiment, Das 》 (2001) ...Steinhoff - Häftling Nr. 38/Prisoner #38

《 Tournee ins Paradies 》 (2001) ...

《 Verzweiflung 》 (2000) ...

《 Tatort - Bienzle und der Mann im Dunkeln 》 (2000) ...Erik Steinbeck

《 Vater und Tochter 》 (2000) ...Manfred Teichert

8、xrd sem表徵差異

簡單的講，SEM是用來觀察材料表面形貌的，XRD是用來檢測材料晶體結構的，使用完全不同的儀器。具體說明如下：

SEM

是scanning electron microscope的縮寫，指掃描電子顯微鏡是一種常用的材料分析手段。
掃描電子顯微鏡於20世紀60年代問世，用來觀察標本的表面結構。其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，並在那裡被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。為了使標本表面發射出次級電子，標本在固定、脫水後，要噴塗上一層重金屬微粒，重金屬在電子束的轟擊下發出次級電子信號。
目前掃描電鏡的分辨力為6~10nm，人眼能夠區別熒光屏上兩個相距0.2mm的光點，則掃描電鏡的最大有效放大倍率為0.2mm/10nm=20000X。
它是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。同時，也可產生電子-空穴對、晶格振動（聲子）、電子振盪（等離子體）。原則上講，利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡正是根據上述不同信息產生的機理，採用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的採集，可得到有關物質微觀形貌的信息；對x射線的採集，可得到物質化學成分的信息。正因如此，根據不同需求，可製造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。

XRD
即X-ray diffraction ，X射線衍射，通關對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。
X射線是一種波長很短(約為20～0.06┱)的電磁波，能穿透一定厚度的物質，並能使熒光物質發光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬「靶」產生的X射線中,包含與靶中各種元素對應的具有特定波長的X射線，稱為特徵（或標識）X射線。考慮到X射線的波長和晶體內部原子間的距離(10-8nm)相近，1912年德國物理學家勞厄(M.von Laue)提出一個重要的科學預見：晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即當一束 X射線通過晶體時將發生衍射，衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析在照相底片上得到的衍射花樣，便可確定晶體結構。這一預見隨即為實驗所驗證。1913年英國物理學家布喇格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在勞厄發現的基礎上,不僅成功地測定了NaCl、KCl等的晶體結構,並提出了作為晶體衍射基礎的著名公式——布喇格定律：
2d sinθ=nλ
式中λ為X射線的波長，n為任何正整數，又稱衍射級數。其上限為以下條件來表示：
nmax=2dh0k0l0/λ，
dh0k0l0<λ/2
只有那些間距大於波長一半的面族才可能給出衍射，以此求納米粒子的形貌。
當X射線以掠角θ(入射角的餘角)入射到某一點陣平面間距為d的原子面上時,在符合上式的條件下，將在反射方向上得到因疊加而加強的衍射線。布喇格定律簡潔直觀地表達了衍射所必須滿足的條件。當 X射線波長λ已知時(選用固定波長的特徵X射線)，採用細粉末或細粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中，從每一θ角符合布喇格條件的反射面得到反射,測出θ後，利用布喇格公式即可確定點陣平面間距、晶胞大小和類型;根據衍射線的強度,還可進一步確定晶胞內原子的排布。這便是X射線結構分析中的粉末法或德拜-謝樂(Debye—Scherrer)法的理論基礎。而在測定單晶取向的勞厄法中，所用單晶樣品保持固定不變動（即θ不變）,以輻射束的波長作為變數來保證晶體中一切晶面都滿足布喇格條件,故選用連續X射線束。如果利用結構已知的晶體，則在測定出衍射線的方向θ後,便可計算X射線的波長，從而判定產生特徵X射線的元素。這便是X射線譜術,可用於分析金屬和合金的成分。
X射線衍射現象發現後，很快被用於研究金屬和合金的晶體結構，出現了許多具有重大意義的結果。如韋斯特格倫（A.Westgren）(1922年)證明α、β和δ鐵都是體心立方結構，β-Fe並不是一種新相;而鐵中的α—→γ轉變實質上是由體心立方晶體轉變為面心立方晶體，從而最終否定了β-Fe硬化理論。隨後,在用X射線測定眾多金屬和合金的晶體結構的同時，在相圖測定以及在固態相變和范性形變研究等領域中均取得了豐碩的成果。如對超點陣結構的發現，推動了對合金中有序無序轉變的研究，對馬氏體相變晶體學的測定，確定了馬氏體和奧氏體的取向關系；對鋁銅合金脫溶的研究等等。目前 X射線衍射(包括散射)已經成為研究晶體物質和某些非晶態物質微觀結構的有效方法。在金屬中的主要應用有以下方面：
物相分析 是 X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標准物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相；後者則根據衍射花樣的強度，確定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的關系和檢查材料的成分配比及隨後的處理規程是否合理等方面都得到廣泛應用。
精密測定點陣參數 常用於相圖的固態溶解度曲線的測定。溶解度的變化往往引起點陣常數的變化；當達到溶解限後，溶質的繼續增加引起新相的析出，不再引起點陣常數的變化。這個轉折點即為溶解限。另外點陣常數的精密測定可得到單位晶胞原子數，從而確定固溶體類型；還可以計算出密度、膨脹系數等有用的物理常數。
取向分析 包括測定單晶取向和多晶的結構（見擇優取向）。測定硅鋼片的取向就是一例。另外，為研究金屬的范性形變過程，如孿生、滑移、滑移面的轉動等，也與取向的測定有關。
晶粒（嵌鑲塊）大小和微觀應力的測定 由衍射花樣的形狀和強度可計算晶粒和微應力的大小。在形變和熱處理過程中這兩者有明顯變化，它直接影響材料的性能。
宏觀應力的測定 宏觀殘留應力的方向和大小，直接影響機器零件的使用壽命。利用測量點陣平面在不同方向上的間距的變化，可計算出殘留應力的大小和方向。
對晶體結構不完整性的研究 包括對層錯、位錯、原子靜態或動態地偏離平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（見晶體缺陷）。
合金相變 包括脫溶、有序無序轉變、母相新相的晶體學關系，等等。
結構分析 對新發現的合金相進行測定，確定點陣類型、點陣參數、對稱性、原子位置等晶體學數據。
液態金屬和非晶態金屬 研究非晶態金屬和液態金屬結構，如測定近程序參量、配位數等。
特殊狀態下的分析 在高溫、低溫和瞬時的動態分析。
此外，小角度散射用於研究電子濃度不均勻區的形狀和大小,X射線形貌術用於研究近完整晶體中的缺陷如位錯線等，也得到了重視。
X射線分析的新發展：金屬X射線分析由於設備和技術的普及已逐步變成金屬研究和材料測試的常規方法。早期多用照相法，這種方法費時較長，強度測量的精確度低。50年代初問世的計數器衍射儀法具有快速、強度測量准確，並可配備計算機控制等優點，已經得到廣泛的應用。但使用單色器的照相法在微量樣品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。從70年代以來，隨著高強度X射線源（包括超高強度的旋轉陽極X射線發生器、電子同步加速輻射,高壓脈沖X射線源）和高靈敏度探測器的出現以及電子計算機分析的應用，使金屬 X射線學獲得新的推動力。這些新技術的結合，不僅大大加快分析速度，提高精度，而且可以進行瞬時的動態觀察以及對更為微弱或精細效應的研究。
X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用於冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域.
X射線是波長介於紫外線和γ射線間的電磁輻射。X射線管是具有陰極和陽極的真空管，陰極用鎢絲製成，通電後可發射熱電子，陽極（就稱靶極）用高熔點金屬製成（一般用鎢，用於晶體結構分析的X射線管還可用鐵、銅、鎳等材料）。用幾萬伏至幾十萬伏的高壓加速電子，電子束轟擊靶極，X射線從靶極發出。電子轟擊靶極時會產生高溫，故靶極必須用水冷卻。
XRDX-射線衍射（Wide Angle X-ray Diffraction）主要是對照標准譜圖分析納米粒子的組成，分析粒徑，結晶度等。
應用時應先對所制樣品的成分進行確認。在確定後，查閱相關手冊標准圖譜，以確定所制樣品是否為所得。

9、SEO與SEW有什麼區別求大神幫助

sew是德國的生產電機等的公司額！應該是seo和sem的區別吧！seo是搜索引擎優化，主要包括關鍵字優化和反鏈優化；sem是搜索引擎營銷，包括seo以及微博、bbs、sns等營銷！