1、怎麼用SEM看薄膜截斷面
針對怎麼用SEM看薄膜截斷面來回答：
獻峰科技指出：在Si片上鍍一層非晶碳膜（厚度為幾十個nm，導電性能較差），用金剛石刀直接切割出試樣，然後進行SEM觀察，希望得到薄膜的厚度。
第一次去做時表面沒有噴金，看到的斷面效果也很差，很難清楚的看到薄膜與基體的分界面。
希 望 采 納 不 足 可 追 問
2、哪家SEM能測鍍層厚度
粗糙組和厚度是完全兩個概念，二者之間沒有直接的聯系和差別。
AFM測的粗糙度是材料的表面形貌特徵。
而你SEM做出來的厚度，只是表徵材料厚度的，和表面粗糙度沒有聯系
3、掃描電鏡怎麼測膜厚度
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4、用SEM測超薄薄膜厚度，如何制樣才能保證導電性足夠好？
SEM？FSEM的話，勉強可以看到，會漂移的很厲害，噴金可以改善導電性 查看原帖>>
麻煩採納，謝謝!
5、如何測量薄膜的厚度
薄膜厚度是否均勻一致是檢測薄膜各項性能的基礎。很顯然，倘若一批單層薄膜厚度不均勻，不但影響到薄膜各處的拉伸強度、阻隔性等，更會影響薄膜的後續加工。對於復合薄膜，厚度的均勻性更加重要。薄膜的厚度測量是薄膜製造業的基礎檢測項目之一。
目前測量薄膜的厚度的方法有在線測厚和非在線測厚
在線測厚較為常見的在線測厚技術有β射線技術，X射線技術和近紅外技術。
β射線技術是最先應用於在線測厚技術上的射線技術。在上世紀60年代就已經廣泛用於超薄薄膜的在線厚度測量了。它對於測量物沒有要求，但β感測器對溫度和大氣壓的變化、以及薄膜上下波動敏感，設備對於輻射保護裝置要求很高，而且信號源更換費用昂貴，Pm147源可以用5-6年，Kr85源可用10年，更換費用均在6000美元左右。
X射線技術
這種技術極少為塑料薄膜生產線所採用。X光管壽命短，更換費用昂貴，一般可用2-3年，更換費用在5000美元左右，而且不適用於測量多種元素構成的聚合物，信號源發射性強。X射線技術常用於鋼板等單一元素的測量。
近紅外技術
近紅外技術在在線測厚領域的應用曾受到條紋干涉現象的影響，但現在近紅外技術已經突破了條紋干涉現象對於超薄薄膜厚度測量的限制，完全可以進行多層薄膜總厚度的測量，並且由於紅外技術自身的特點，還可以在測量復合薄膜總厚度的同時給出每一層材料的厚度。近紅外技術可用於雙向拉伸薄膜、流延膜和多層共擠薄膜，信號源無放射性，設備維護難度相對較低。
非在線測厚
非在線測厚技術主要有一觸式測量法和非接觸式測量法兩類，接觸式測量法主要是機械測量法，非接觸式測量法包括光學測量法，電渦流測量法、超聲波測量法等。由於非在線測厚儀設備價格便宜、體積小等原因，應用領域廣闊。
渦流測厚儀和磁性測厚儀
渦流測厚儀和磁性測厚儀一般都是小型攜帶型設備，分別利用了電渦流原理和電磁感應原理。專用於各種特定塗層厚度的測量，用於測量薄膜、紙張的厚度時有出現誤差的可能。
超聲波厚度儀
超聲波厚度儀也多是小型便攜帶設備，利用超聲波反射原理，可測金屬、塑料、陶瓷、玻璃及其它任何超聲波良導體的厚度。可在高溫下工作，這是很多其它類型的測厚儀所不具備的，但對檢測試樣的種類具有選擇性。
光學測厚儀
從測量原理上來說光學測厚儀可達到極高的測試精度，但是這類測厚儀在使用及維護上要求極高；必須遠離振源；嚴格防塵；專業操作及維護等。使用范圍較窄，僅適用於復合層數較少的復合膜。
機械測厚儀
機械測厚儀可以分為點接觸式和面接觸式兩類，是一種接觸式測厚方法，它與非接觸式測量方法有著本質的區別——能夠在進行厚度測量前給試樣測量表面施加一定的壓力（點接觸力或面接觸力），這樣可以避免在使用非接觸式測厚儀測量那些具有一定壓縮力、表面高低不平的材料時可能出現數據波動較大的現象。
所以具體要選擇哪一類測厚儀設備還需根據軟包裝材料的種類，廠家對厚度均勻性的要求、以及設備的測試范圍等因素而定。
本答案源於PP論壇