1、TEM和SEM有什麼區別？
透射電鏡（TEM）的放大倍數要比掃描電鏡（SEM）的高,當然兩則的成像原理也是不同的，如果需要觀察納米顆粒在聚合物中的分散情況，你就必須要用TEM來觀察了，SEM通常看材料的缺口斷面，當然還有許多其他應用。SEM是電子束激發出表面次級電子,而TEM是穿透試樣,而電子束穿透能力很弱,所以TEM樣品要求很薄,只有幾十nm, TEM一般放大能達幾百w倍,而SEM只有幾萬倍.掃描電鏡通常用在一些斷口觀察分析,外加一個能譜儀,可以進行能譜掃描.其放大倍數相對較低,操作方便,樣品製作簡單,對於高聚物,須進行噴金處理 TEM則可以觀看樣品的內部結構,粒子的分散等.其放大倍數高於SEM,但也不是絕對,現在有些掃描電鏡的放大倍數也可以很高.其操作較復雜,樣品製作也較為煩瑣
2、SEM與TEM的區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.
區別：
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
3、掃描電鏡SEM和透射電鏡TEM的區別
掃描電鏡，是觀察樣品表面的結構特徵；
透射電鏡，是觀察樣品的內部精細結構。
4、誰能給我講解一下SEM和TEM的區別，詳細一點
最主要的來區別是：SEM是通過反射的自方式採集信號
TEM是通過透射的方式採集信號
1、樣品屬性大概必須都是固體，乾燥、無油、盡量導電。TEM獲得材料某個剖面的組織形態，sem獲得的是材料表面或者是斷面的組織形態。透射電鏡不可以看錶面形貌，而掃描電鏡所觀察的斷面或者表面的組織形態可以間接表徵材料的內部某個剖面的的組織形態。TEM解析度高，可以觀察原子晶格像，而掃描電鏡解析度低，最多隻能表徵由幾十或者幾百個原子形成的納米相--可以叫做晶粒或者功能團。
2、掃描電鏡制備簡單，可直接觀察樣品表面或者斷面；TEM樣品制備復雜精細，材料必須用專用制樣設備，制備成幾個微米甚至100nm厚度的薄片
3、材料有里有面，全方位了解材料的微觀組織結構需要從低倍到高倍的表徵。
介孔Pt纖維。左起依次是場發射掃描式電子顯微鏡、高解析度掃描式電子顯微鏡、透射電子顯微鏡拍攝的照片。
樓主看出用途的差別了嗎？
照片a 只能用掃描看，不能用透射。照片b和c是照片a中的一個纖維，可以用掃描也可以用透射觀察！有差別但很相似
5、SEM和TEM區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning
Electronic
Microscopy.
TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission
Electron
Microscope.
區別：
1.
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像.
TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
2.
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
3.
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
6、TEM和SEM成像上有什麼區別
SEM是掃描電鏡，所加電壓比較低，只是掃描用的，相當於高倍的顯微鏡TEM是透射電鏡，所加電壓高，可以打透樣品，觀察內部結構STEM是掃描透射，是掃描電鏡裡面