1、SEM與TEM的區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.
區別：
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
2、透射電鏡中成像的襯度來源主要有哪些
晶體衍射襯度
質厚襯度
3、化探工作中,什麼叫襯度
這只是一個概念，在測區范圍內，首先統計計算某個元素的「背景值」，再由「背景值」除以「單點值」，就是「襯度值」，即 襯度=單點值/背景值。
4、何謂襯度？tem主要有哪幾種襯度？都是如何產生的
讓我來告訴你：
透射電鏡TEM襯度的形成,物鏡後焦面是起重要作用的部位。
電子經樣品散射後，相對光軸以同一角度進入物鏡的電子在物鏡後焦面上聚焦在一個點上。散射角越大，聚焦點離軸越遠,如果樣品是一個晶體,在後焦面上出現的是一幅衍射圖樣。與短晶面間距（或者說"高空間頻率"）對應的衍射束被聚焦在離軸遠處。在後焦面上設有一個光闌。它截取那一部分電子不但對襯度，而且對分辨本領有直接的影響。如果光闌太小，把需要的高空間頻率部分截去，那麼和細微結構對應的高分辨信息就丟失了（見阿貝成像原理）。
樣品上厚的部分或重元素多的部分對電子散射的幾率大。透過這些部分的電子在後焦面上分布在軸外的多。用光闌截去部分散射電子會使"質量厚度"大的部位在像中顯得暗。這種襯度可以人為地造成，如生物樣品中用重元素染色，在材料表面的復形膜上從一個方向噴鍍一層金屬，造成陰陽面等。散射吸收(指被光闌擋住)襯度是最早被人們所認識和利用的襯度機制。就表面復型技術而言，它的分辨本領可達幾十埃。至於晶體樣品的衍襯像和高分辨的點陣像的襯度來源，見點陣像和電子衍襯像
電鏡襯度分類
電鏡襯度分四類：質厚襯度，衍射襯度，相位襯度，Z襯度。TEM是利用相位襯度。
我知道所以你知道！
5、掃描電鏡(SEM)中表面形貌襯度和原子序數襯度各有什麼特點
?
6、化探測量中的襯度公式是什麼
我是資源勘查的，地球化學課上學過襯度，不知道是不是你要找的這個襯度值：異常中指示元素的平均含量與該元素的背景上限的比值（¯C/Ca），用來表示異常強度希望能幫到你
7、透射電鏡與掃描電鏡的襯度來源有何不同？為什麼有些結構在TEM是黑色的,而在SEM白色的
通俗的說 掃描電鏡是相當與對物體的照相 得到的是表面的 只是表面的 立體三維的圖象 因為掃描的原理是「感知」那些物提被電子束攻擊後發出的此級電子 而透射電竟就相當於普通顯微鏡 只是用波長更短的電子束替代了會發生衍射的可見光 從而實現了顯微 是二維的圖象 會看到表面的圖象的同時也看到內層物質 就想我們拍的X光片似的 內臟骨骼什麼的都重疊著顯現出來 總結就是透射雖然能看見內部但是不立體 掃描立體但是不能看見內部 只局限與表面
8、SEM背散射電子下，原子系數越大是越亮還是越暗，二次電子下是不是相反的。
背散射電子是發射電子被樣品彈性碰撞彈回來的，所以原子序數大的原子越大，彈性碰撞的概率越大，所以原子序數大的背散射電子強度的大；二次電子是從樣品表面發射的電子，跟原子序數沒關系，跟樣品的表面形態有關，因為撞擊角度90度是二次電子基本么有，傾斜裝機的二次電子產率就很高了，所以二次電子像是跟樣品觀察角度有關的。