sem照片怎麼知道粒徑

1、怎麼計算sem中粉末的粒徑分布

不需要吧，不過這種方法貌似誤差比較大，最直觀的就是做透射電鏡，然後用image j統計比較准確~~ 可是我覺得報告里的粒徑不大正確，而且測試的老師也說讓我自己計算，一起計算的不準確！fangxingxue(站內聯系TA)我們做了以後發現數據波動很厲害，所以說 用zetasizer測定顆粒平均粒徑不大准，建議用透射吧

2、如何從照片中計算顆粒粒徑,有哪些軟體?

化學方面可能會有專業軟體吧
如果一般軟體
你可以試試photoshop
裡面有個度量工具
度量出結果後再根據比例換算一下
沒試過
只是設想……

3、通過掃描電鏡或透射電鏡圖片上的顆粒大小 做出相應粒徑大小的柱狀分布圖（橫坐標為粒徑尺寸，縱坐標為峰強

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4、如何在SEM圖像中測量納米線的直徑與長度

膠體實際能叫做溶液膠體溶液並列都屬於散系其本質區別面溶質（散質）粒徑同膠體指粒徑1-100納米散質溶液於1納米
感覺這樣的提問沒有什麼意義
建議看看書，查查資料

5、用SEM照片能進行粒度分析？

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6、透射電鏡照片的粒徑怎麼算啊

如果是CCD照的照片，直接可以用digitalmicrography軟體上面的標尺工具量，如果是negative，則只能是比對上面的bar人工測量了。你可以給我照片我幫你量。

7、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(7)sem照片怎麼知道粒徑擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。