1、如何在sem圖上標尺度,用什麼軟體？圖片已經掃描回來了。大概是納米級的，圖上已經有標准長度給出。
可以用image tools 或者image pro plus ，前者是個免費的小軟體，後者網上有破解版的
2、【求助】如何計算晶粒度
最好說一下你的樣品是什麼樣子的，等軸的，非等軸的都不一樣，詳細點說就是整個標准讀一下cqw007(站內聯系TA)我是做硬質合金的，怎麼測量？xufengneu(站內聯系TA)掃描截距法測量WC的晶粒度啊風雨過後(站內聯系TA)你也可以直接做一下XRD，用德拜謝樂公式應該可以計算出來，就不用量了:D:Dsunggcc(站內聯系TA)先做XRD分析，然後根據德拜謝樂公式算。有的不用自己算，可以直接得到數據。jic8417(站內聯系TA)照個X射線，用XRD分析軟體一弄就出來了。nofail(站內聯系TA)用XRD是個好辦法，不過要記得謝樂公式的使用范圍，lz的晶粒度范圍可能不在此公式內cqw007(站內聯系TA)Originally posted by xufengneu at 2010-09-14 16:54:51:掃描截距法測量WC的晶粒度啊 能說具體些嗎？sourbing(站內聯系TA)XRD分析的晶粒度准確么？至少我不認同，不如金相直觀，而且對於一個樣品，平均晶粒度是指整個視場下的平均衡量，除非你能保證晶粒度均勻，否則xrd局限性很大，況且算出來的不如直觀的。在金相顯微鏡下觀察晶粒形貌，如果是等軸的，按平均晶粒度標准上的比較法，和標准圖譜進行比較，類似幾級就是幾級，比較就是選定一個能代表整個樣品晶粒度的視場和標准圖比。如果不是等軸的，說白了就是晶粒大小差別很大，可以採用面積法或截距法來做，具體標准上有很詳細的說明。如何通過XRD測晶胞參數、晶粒度等啊
3、【請教】從SEM圖片中計算顆粒體積分數該用什麼軟體？
markblue(站內聯系TA)先用PHOTOSHOP處理下圖片，調調對比度等等，用IMAGE pro可以進行不錯的分析beam21(站內聯系TA)ID:中文核心
只能告訴軟體名稱與文章出處：The CSD Corrections program of Higgins（Higgins M.D.(2000)Measurement of crystal size distributions.Am. Mineral. 85:1105-1116）unidirection(站內聯系TA)我也需要求他們的體積分數，以上說的是方法是不是僅僅只能用來測量一張照片的體積分數啊？但是如何求整個全部的體積分數呢？gywu0420(站內聯系TA)謝謝啊！！！我也急需啊！！幫忙發一個過來：[email protected](站內聯系TA)Originally posted by gentle8306 at 2008-12-18 08:57:
4、XRD晶粒尺寸計算
利用謝樂公式來計算
謝樂公式的應用方法Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ為X 射線波長, B為衍射峰半高寬, θ 為衍射角) 雙線法（Williams-Hall）測定金屬晶體中的微觀應力 晶塊尺寸小於0.1μm，且有不均勻應變時衍射線寬化。可用謝樂方程或Hall法作定量計算。 1 衍射線寬化的原因 用衍射儀測定衍射峰的寬化包括儀器寬化和試樣本身引起的寬化。試樣引起的寬化又包括晶塊尺寸大小的影響、不均勻應變（微觀應變）和堆積層錯（在衍射峰的高角一側引起長的尾巴）。後二個因素是由於試樣晶體結構的不完整所造成的。 2 謝樂方程 若假設試樣中沒有晶體結構的不完整引起的寬化，則衍射線的寬化僅是由晶塊尺寸造成的，而且晶塊尺寸是均勻的，則可得到謝樂方程： 式中Size表示晶塊尺寸（nm），K為常數，一般取K=1，λ是X射線的波長(nm)，FW（S）是試樣寬化(Rad)，θ則是衍射角(Rad)。 計算晶塊尺寸時，一般採用低角度的衍射線，如果晶塊尺寸較大，可用較高衍射角的衍射線來代替。此式適用范圍為1-100nm。 3 微觀應變引起的線形寬化 如果存在微觀應力，衍射峰的加寬表示為： 式中Strain表示微觀應變，它是應變數對面間距的比值，用百分數表示。 4 Hall方法 測量二個以上的衍射峰的半高寬FW（S），由於晶塊尺寸與晶面指數有關，所以要選擇同一方向衍射面，如（111）和（222），或（200）和（400）。以 為橫坐標，作 圖，用最小二乘法作直線擬合，直線的斜率為微觀應變的兩倍，直線在縱坐標上的截距即為晶塊尺寸的倒數。 5 半高寬、樣品寬化和儀器寬化 樣品的衍射峰加寬可以用半高寬來表示，樣品的半高寬FWHM是儀器加寬FW（I）和樣品性質（晶塊尺寸細化和微觀應力存在）加寬FW（S）的卷積。 為了求得樣品加寬FW（S），必須建立一個儀器加寬FW（I）與衍射角θ之間的關系，也稱為FWHM曲線。 該曲線可以通過測量一個標樣的衍射譜來獲得。標樣應當與被測試樣的結晶狀態相同，標樣必須是無應力且無晶塊尺寸細化的樣品，晶粒度在25μm以上，如NISTA60Si和LaB6等 注意事項：1晶粒大於100納米以上，用謝樂公式不太准確，因為其半高寬的原因。最准確的是在40nm左右，但是，低於100nm我們都用謝樂公式來算2 謝樂公式只適合球形粒子 對立方體粒子 常數應改為 0.943 半高寬應該轉化為弧度制 半高寬/180 再乘以 3.14
5、求助Jade計算出來的晶粒尺寸大小趨勢和SEM圖相反是什麼原因呢？
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6、如何用imageJ求TEM圖像中的晶粒尺寸分布
用imageJ求TEM圖像中的晶粒尺寸分布的方法：
用ImageJ打開一幅圖，然後選Straight Lines，在bar上量一下，然後在菜單中的Analyze中選Set Scale，在Known Distance 填上bar所代表的長度。然後就可以量了，用Straight Lines量距離，然後按住Ctrl+m就可以顯示了。
ImageJ是一個基於java的公共的圖像處理軟體，它是由National Institutes of Health開發的。可運行於Microsoft Windows，Mac OS，Mac OS X，Linux，和Sharp Zaurus PDA等多種平台。其基於java的特點， 使得它編寫的程序能以applet等方式分發。
7、知道XRD結果，如何從XRD數據中計算出晶粒的大小
jade
計算的是全譜的粒徑大小，如果你的樣品做的比較好
測出來的各個峰對應的粒徑大小差別不大
如果樣品不太好
直接在儀器上計算出來的是最強峰對應的粒徑大小
就看你想要哪個數據了