1、SEI是指什麼測試手段，elemental mapping是用什麼儀器測得？
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2、材料分析測試技術課中觀察樣品表面形態的儀器是什麼？
SEM，掃描電鏡，主要觀測物體表面的微觀形態的狀況。當然還有一系列電鏡，有著不同用途，比如場發射掃描電鏡，這個可以觀察半固體表面。最大可以看到原子組成排列。
3、哪位大神可以清楚的告訴我SEM，EDS，XRD的區別以及各自的應用
SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個用於微區分析成分的配件——能譜儀。能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用於物相分析的檢測設備。
掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM，圖2-17、18、19）於20世紀60年 代問世，用來觀察標本的表面結構。其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣 品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，並在那裡被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子 束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。為了使標本表面發射出次級電子，標本在固定、脫水後，要噴塗上一層重金屬微粒，重金屬在電子束 的轟擊下發出次級電子信號。 目前掃描電鏡的分辨力為6~10nm，人眼能夠區別熒光屏上兩個相距0.2mm的光點，則掃描電鏡的最大有效放大倍率為0.2mm/10nm=20000X。
EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特徵波長，特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特徵能量不同這一特點來進行成分分析的。使用范圍：
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；
2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；
3、可對固體材料的表面塗層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；
4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；
5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。
X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用於冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。
4、SEM掃描電鏡里檢測到的銀(Ag)是否是儀器錯判？本身樣品是沒有含有銀這個物質的。
可以手動檢查標定，如果確認為Ag, 那麼一定是有了。
不同線系重疊峰，自動有時候會標亂
5、sems超低排放檢測儀器量程怎麼選擇
雪迪龍設備個人感覺總體上是可以的。口碑還不錯的
超低排放，不僅僅是CEMS表計是否能達到，
運行調整有很大的關系。。。。
SO2，NO，CO量程要選擇當前標準的2倍以上粉塵儀選擇超低排放所需的量程。