1、謝樂公式計算晶粒尺寸
你可以直接用Jade軟體處理,裡面可以自動去背景,自動用謝樂公式計算晶粒尺寸,可把三強峰的晶粒尺寸都算一下,然後獲得平均值.另外,Jade軟體只能計算小於1000nm的晶粒尺寸.
2、XRD晶粒尺寸計算
利用謝樂公式來計算
謝樂公式的應用方法Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ為X 射線波長, B為衍射峰半高寬, θ 為衍射角) 雙線法（Williams-Hall）測定金屬晶體中的微觀應力 晶塊尺寸小於0.1μm，且有不均勻應變時衍射線寬化。可用謝樂方程或Hall法作定量計算。 1 衍射線寬化的原因 用衍射儀測定衍射峰的寬化包括儀器寬化和試樣本身引起的寬化。試樣引起的寬化又包括晶塊尺寸大小的影響、不均勻應變（微觀應變）和堆積層錯（在衍射峰的高角一側引起長的尾巴）。後二個因素是由於試樣晶體結構的不完整所造成的。 2 謝樂方程 若假設試樣中沒有晶體結構的不完整引起的寬化，則衍射線的寬化僅是由晶塊尺寸造成的，而且晶塊尺寸是均勻的，則可得到謝樂方程： 式中Size表示晶塊尺寸（nm），K為常數，一般取K=1，λ是X射線的波長(nm)，FW（S）是試樣寬化(Rad)，θ則是衍射角(Rad)。 計算晶塊尺寸時，一般採用低角度的衍射線，如果晶塊尺寸較大，可用較高衍射角的衍射線來代替。此式適用范圍為1-100nm。 3 微觀應變引起的線形寬化 如果存在微觀應力，衍射峰的加寬表示為： 式中Strain表示微觀應變，它是應變數對面間距的比值，用百分數表示。 4 Hall方法 測量二個以上的衍射峰的半高寬FW（S），由於晶塊尺寸與晶面指數有關，所以要選擇同一方向衍射面，如（111）和（222），或（200）和（400）。以 為橫坐標，作 圖，用最小二乘法作直線擬合，直線的斜率為微觀應變的兩倍，直線在縱坐標上的截距即為晶塊尺寸的倒數。 5 半高寬、樣品寬化和儀器寬化 樣品的衍射峰加寬可以用半高寬來表示，樣品的半高寬FWHM是儀器加寬FW（I）和樣品性質（晶塊尺寸細化和微觀應力存在）加寬FW（S）的卷積。 為了求得樣品加寬FW（S），必須建立一個儀器加寬FW（I）與衍射角θ之間的關系，也稱為FWHM曲線。 該曲線可以通過測量一個標樣的衍射譜來獲得。標樣應當與被測試樣的結晶狀態相同，標樣必須是無應力且無晶塊尺寸細化的樣品，晶粒度在25μm以上，如NISTA60Si和LaB6等 注意事項：1晶粒大於100納米以上，用謝樂公式不太准確，因為其半高寬的原因。最准確的是在40nm左右，但是，低於100nm我們都用謝樂公式來算2 謝樂公式只適合球形粒子 對立方體粒子 常數應改為 0.943 半高寬應該轉化為弧度制 半高寬/180 再乘以 3.14
3、關於晶粒度計算公式?
第二個公式是根據立方體的體積計算公式和表面積計算公式的差別推導出來的！也就是說假設催化劑顆粒是立方體形的！第一個不是很清楚，好像是根據球形顆粒推導出來的！好像還有其他假設？
4、知道XRD結果，如何從XRD數據中計算出晶粒的大小
jade 計算的是全譜的粒徑大小，如果你的樣品做的比較好 測出來的各個峰對應的粒徑大小差別不大 如果樣品不太好 直接在儀器上計算出來的是最強峰對應的粒徑大小 就看你想要哪個數據了
5、【求助】如何計算晶粒度
最好說一下你的樣品是什麼樣子的，等軸的，非等軸的都不一樣，詳細點說就是整個標准讀一下cqw007(站內聯系TA)我是做硬質合金的，怎麼測量？xufengneu(站內聯系TA)掃描截距法測量WC的晶粒度啊風雨過後(站內聯系TA)你也可以直接做一下XRD，用德拜謝樂公式應該可以計算出來，就不用量了:D:Dsunggcc(站內聯系TA)先做XRD分析，然後根據德拜謝樂公式算。有的不用自己算，可以直接得到數據。jic8417(站內聯系TA)照個X射線，用XRD分析軟體一弄就出來了。nofail(站內聯系TA)用XRD是個好辦法，不過要記得謝樂公式的使用范圍，lz的晶粒度范圍可能不在此公式內cqw007(站內聯系TA)Originally posted by xufengneu at 2010-09-14 16:54:51:掃描截距法測量WC的晶粒度啊 能說具體些嗎？sourbing(站內聯系TA)XRD分析的晶粒度准確么？至少我不認同，不如金相直觀，而且對於一個樣品，平均晶粒度是指整個視場下的平均衡量，除非你能保證晶粒度均勻，否則xrd局限性很大，況且算出來的不如直觀的。在金相顯微鏡下觀察晶粒形貌，如果是等軸的，按平均晶粒度標准上的比較法，和標准圖譜進行比較，類似幾級就是幾級，比較就是選定一個能代表整個樣品晶粒度的視場和標准圖比。如果不是等軸的，說白了就是晶粒大小差別很大，可以採用面積法或截距法來做，具體標准上有很詳細的說明。如何通過XRD測晶胞參數、晶粒度等啊
6、求助Jade計算出來的晶粒尺寸大小趨勢和SEM圖相反是什麼原因呢？
X
7、XRD計算晶粒尺寸問題求助?
你可以直接用Jade軟體處理，裡面可以自動去背景，自動用謝樂公式計算晶粒尺寸，可把三強峰的晶粒尺寸都算一下，然後獲得平均值。另外，Jade軟體只能計算小於1000nm的晶粒尺寸。
8、bet中測量的數據如何計算晶粒尺寸
納米材料的界面分析
物質的尺寸到了納米級別後由於表面電子能級的變化,導致納米材料具有許多奇特的性能,從而使其具備奇異性和反常性,能使多種多樣的材料改性,用途極為廣泛. 納米效應包括的表面效應，量子尺寸效應，體積效應，宏觀量子隧道效應界面相關效應等
表面效應
納米材料尺寸小.表面能高,位於表面原子占相當大的比例,隨著原子粒徑的減小,表面原子數目迅速增加,原子配位數不足和高的表面能使這些原子具有高的活性.極不穩定和容易與別的原子結合.
量子尺寸效應
能級間距隨著原子尺寸的減小而增大,當熱能磁場能和電場能比平均能級間距還小時,就會呈現和宏觀物體截然不同的特性稱為量子尺寸效應.
體積效應
當超細微粒的尺寸和波長與光波波長和的布羅意波長等物理尺寸相當或更小時,晶體周期性邊界條件被破壞,導致聲,光,電磁,熱力學等特徵方面出現一些新的變化.
宏觀量子尺寸效應
是指納米顆粒具有貫穿是累的能力，界面相關效應,納米結構材料中有大量的界面,具有反常高的擴散率,比如納米銅材料的超塑性.
納米材料是處在0.1—100nm尺寸范圍內，用肉眼和普通顯微鏡難以觀測其顯微結構。納米微粒尺寸的表徵，由於實驗手段的不一，採用的表徵技術各異，各種方法間有一定的差異。這里，我們來描述幾種表示方法。
一、X射線法
在多相催化的催化劑研究中，往往需要對催化劑的活性組分及載體進行晶粒大小測定，因為催化劑的性能如活性、選擇性、比表面積、孔容、強度及壽命等都直接與其晶粒大小有著密切的關系。在研製新催化劑制備工藝條件或對已使用過的催化劑了解其物性變化、機械強度、失活原因等，也需要考慮其晶粒大小的變化，所有這些都需要晶粒大小的測定。
電鏡觀察法測量的是顆粒度而不是晶粒度，X-射線衍射線寬法是測定顆粒晶粒度的最好方法。它具有簡便、快速和直觀的優點。當顆粒為單晶時，該法測得的是顆粒度；當顆粒為多晶時，該法測得的是組成單個顆粒的單個晶粒的平均晶粒度。
許多物質實際上是由許多細小晶體緊密聚集而成有二次聚集態，這些細小的單晶稱為一次聚集態，即晶粒。當晶粒在200nm以下，晶粒中晶面數目減少，衍射線條彌散而產生明顯的寬化，晶粒越小，衍射線條的寬化越嚴重，使衍射強度在2θ+Δθ范圍內有一個較大分布。當晶體內不存在應力和缺陷時，可以利用晶粒大小與衍射線寬化程度的關系來測量