1、請問SEM，STM，AFM在應用上的區別
SEM是掃描電鏡，所加電壓比較低，只是掃描用的，相當於高倍的顯微鏡TEM是透射電鏡，所加電壓高，可以打透樣品,AFM一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。
2、電子顯微鏡，原子力顯微鏡，掃描隧道顯微鏡....的區別
電子顯微鏡，原子力顯微鏡，掃描隧道顯微鏡.的區別：
一．掃描電鏡的特點 和光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點：
(一) 能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(二) 樣品制備過程簡單，不用切成薄片。
(三) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。
(四) 景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。
(五) 圖象的放大范圍廣，解析度也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。解析度介於光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。
(六) 電子束對樣品的損傷與污染程度較小。
(七) 在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發出的其他信號作微區成分分析。
二·原子力顯微鏡
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用感測器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級解析度獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。
相對於掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡具有許多優點。不同於電子顯微鏡只能提供二維圖像，AFM提供真正的三維表面圖。同時，AFM不需要對樣品的任何特殊處理，如鍍銅或碳，這種處理對樣品會造成不可逆轉的傷害。第三，電子顯微鏡需要運行在高真空條件下，原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環境下都可以良好工作。這樣可以用來研究生物宏觀分子，甚至活的生物組織。原子力顯微鏡與掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）相比，由於能觀測非導電樣品，因此具有更為廣泛的適用性。當前在科學研究和工業界廣泛使用的掃描力顯微鏡，其基礎就是原子力顯微鏡。
三·掃描隧道顯微鏡
① 高解析度 掃描隧道顯微鏡具有原子級的空間解析度，其橫向空間解析度為 l，縱向解析度達0.1，
② 掃描隧道顯微鏡可直接探測樣品的表面結構，可繪出立體三維結構圖像。
③ 掃描隧道顯微鏡可在真空、常壓、空氣、甚至溶液中探測物質的結構。由於沒有高能電子束，對表面沒有破壞作用(如輻射， 熱損傷等)所以能對生理狀態下生物大分子和活細胞膜表面的結構進行研究，樣品不會受到損傷而保持完好。
④ 掃描隧道顯微鏡的掃描速度快，獲取數據的時間短，成像也快，有可能開展生命過程的動力學研究。
⑤ 不需任何透鏡， 體積小，有人稱之為"口袋顯微鏡"(pocket microscope)。
3、掃描電鏡和透射電鏡哪個好，各有什麼特點，哪個貴啊？
我以前也畢設也做過電鏡，是大腸桿菌的細胞表面的納米金屬顆粒，掃描電鏡，透射電鏡兩專個都做了。最後寫論屬文的時候就用了掃描電鏡的圖，你說看主要做形貌，凡是需要看物質表面形貌的，都可以用掃描電鏡，不過要要注意掃描電鏡目前解析度，看看能否達到實驗要求。
兩種測試手段的適用情況
凡是需要看物質表面形貌的，都可以用掃描電鏡，不過最好的掃描電鏡目前解析度在0.5~1nm左右。如果需要進一步觀察表面形貌，需要使用掃描探針顯微鏡spm（afm，stm).
如果需要對物質內部晶體或者原子結構進行了解，需要使用tem.
例如鋼鐵材料的晶格缺陷,細胞內部的組織變化。當然很多時候對於nm
材料的形態也使用tem觀察。
區別
掃描電鏡觀察的是樣品表面的形態，而透射電鏡是觀察樣品結構形態的。一般情況下，透射電鏡放大倍數更大，真空要求也更高。
掃描電鏡可以看比較「大」的樣品，最大可以達到直徑200mm以上，高度80mm左右，而透射電鏡的樣品只能放在直徑3mm左右的銅網上進行觀察。
4、掃描電鏡與原子力顯微鏡
當解析度在納米和原子范圍時，掃描電鏡（SEM）和原子力電鏡（AFM）是我們今天可以獲得的最有效的兩種顯微技術，各有優劣。它們最根本的區別在於它們操作的環境不同。SEM需要在真空環境中進行，而AFM是在空氣中或液體環境中操作。因此如果是要測定液體中細微顆粒的形態，AFM更為適合一些。通常AFM掃描含水的試樣是把它和掃描探針放在液體中進行的，因為AFM不是以導電性為基礎，所以圖像和掃描模件在液體中都不會受干擾。
5、原子力顯微鏡和掃描電鏡的異同點
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用感測器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級解析度獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。
掃描電子顯微鏡（SEM）是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。
6、西安哪裡可以進行AFM-原子力顯微鏡，SEM-掃描電鏡，和XPS（X射線光電子能譜分析）測試？
我江蘇的可以 聯系[email protected] 樣品郵寄我可以測SEM 迅速給測
7、請問場發射掃描電子顯微鏡與普通掃描電鏡相比有哪些區別
二次電子象解析度：1.5nm 加速電壓：0～30kV 放大倍數：10-50萬倍連續可調工作距離：5～35mm連續可調傾斜：-5°～45° x射線能譜儀： 解析度：133eV 分析范圍：B-U
附件信息： 鍍金鍍炭儀 ISIS圖像處理系統背散射探頭
場發射掃描電鏡，由於解析度高，為納米材料的研究提供了可靠的實驗手段
8、SEM、TEM、TG、XRD、AFM、紅外光譜，這幾個分別是測什麼的？
測什麼百度一下吧，應該都有詳細的測試原理及項目。
區別應該是 SEM和TEM和AFM，越來越高級，放大倍數越來越高。XRD和紅外光譜這兩個是沒什麼關系的，xrd是測試晶體結構的，可以測試晶體結構的，對於可以看出你的材料是什麼。紅外是靠紅外吸收峰的位置與強度反映了分子結構上的特點，可以用來鑒別未知液態水的紅外光譜物的結構組成或確定其化學基團；而吸收譜帶的吸收強度與化學基團的含量有關，可用於進行定量分析和純度鑒定。l紅外主要用於有機化合物的結構鑒定在有機化學、生物化學、葯物學、環境科學等許多領域。