1、哪位大神可以清楚的告訴我SEM，EDS，XRD的區別以及各自的應用
SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個用於微區分析成分的配件——能譜儀。能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用於物相分析的檢測設備。
掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM，圖2-17、18、19）於20世紀60年 代問世，用來觀察標本的表面結構。其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣 品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，並在那裡被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子 束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。為了使標本表面發射出次級電子，標本在固定、脫水後，要噴塗上一層重金屬微粒，重金屬在電子束 的轟擊下發出次級電子信號。 目前掃描電鏡的分辨力為6~10nm，人眼能夠區別熒光屏上兩個相距0.2mm的光點，則掃描電鏡的最大有效放大倍率為0.2mm/10nm=20000X。
EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特徵波長，特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特徵能量不同這一特點來進行成分分析的。使用范圍：
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；
2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；
3、可對固體材料的表面塗層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；
4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；
5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。
X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用於冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。
2、SEM與TEM的區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.
區別：
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
3、復合材料的形貌可採用金相,掃描電鏡,描隧道電鏡和原子力顯微鏡進行,試比較其區別
朋友，這是三類原理不同的顯微鏡。
金相顯微鏡是屬於光學顯微鏡，主要用於觀內察材料容表面的金相組織，解析度受限於半波長，只有0.2um，無法得到更高解析度的圖像。
掃描電鏡即SEM，屬於第二代顯微鏡，是採用電子轟擊樣品表面進行成像，得到樣品表面二維的形貌像，解析度可以達到nm級別；只是它要求樣品必須為導電樣品，所以對於非導電樣品需要進行前期的制樣處理：噴金、銀或碳等。
你說的描隧道電鏡應該是掃描隧道顯微鏡，它和原子力顯微鏡統稱為掃描探針顯微鏡，屬於第三類顯微鏡，原理均為一根原子線度的極細的針尖作用在樣品表面，通過檢測針尖與樣品表面之間的作用力來得到樣品表面的形貌像，所不同的是掃描隧道顯微鏡只能檢測導電樣品，故應用范圍受限（但解析度最高：橫向0.1nm，縱向0.01nm），而原子力顯微鏡則對樣品無此要求，所以為最常用的一類掃描探針顯微鏡，解析度為：橫向：0.2nm，縱向：0.1nm；與電鏡不同，這一類顯微鏡得到的是三維的圖像。除此之外，掃描探針顯微鏡是一個大的家族，還包括：磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡、聲學顯微鏡等二十多種。
希望可以幫到你。
4、怎麼制好復合材料的SEM切片
?
5、如何利用SEM掃描電鏡法分析玻纖增強尼龍這種復合材料的玻璃纖維增強效果
DPH 小白來啦~~~