sem圖像粒徑

1、能否根據SEM圖像求出粒徑大小

?

2、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(2)sem圖像粒徑擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

3、用SEM照片能進行粒度分析？

?

4、sem掃描電鏡 圖像 12.2mm*5.0k 1.0微米指的是10個格子還是1個格子

10個格子這種標尺常見於日立電鏡，對應的數值指的是10個格子總長度

5、如何用image pro plus統計sem圖微球粒徑

R

6、怎麼計算sem中粉末的粒徑分布

不需要吧，不過這種方法貌似誤差比較大，最直觀的就是做透射電鏡，然後用image j統計比較准確~~ 可是我覺得報告里的粒徑不大正確，而且測試的老師也說讓我自己計算，一起計算的不準確！fangxingxue(站內聯系TA)我們做了以後發現數據波動很厲害，所以說 用zetasizer測定顆粒平均粒徑不大准，建議用透射吧

7、【求助】激光粒徑儀所測粒徑與SEM的粒徑相差甚遠是什麼原因

nanopowders(站內聯系TA)激光粒度是一個統計數據，可能會是單顆粒和團聚體的表現，而電鏡粒度一般都是統計單個顆粒，除非你的顆粒在溶液中的分散性能很好，形成類似於單分散的漿液，這樣二者才會很接近，不然測試的激光粒度都要大於電鏡粒度，工業上控制在2倍范圍都是可以的pigfly(站內聯系TA)激光粒徑儀測得的是水合半徑,如果是利用靜電排斥作用穩定的體系,水合半與pH有很大關系,sugucong(站內聯系TA)激光粒徑儀測量的是水溶液，而SEM是顆粒的乾粉，一般情況下激光粒徑儀所得到的結果比SEM的要大至少幾個納米，還有，激光粒徑儀受到各別非常大的顆粒影響很大，而且對溫度，樣品的濃度、單分散性都有很大的影響，但你可以通過多次測量得出一個准確的結果。你可以用一個標准物質與它們進行校正。動態光散射的話是分開來進行測量，然後通過比例進行校正。TEM可以通過樣品之間不同比例的混合，然後通過統計，最後進行校正。這樣你就可以得到你們顆粒的准確粒徑。