冷激光SEM

1、【求助】激光粒徑儀所測粒徑與SEM的粒徑相差甚遠是什麼原因

nanopowders(站內聯系TA)激光粒度是一個統計數據，可能會是單顆粒和團聚體的表現，而電鏡粒度一般都是統計單個顆粒，除非你的顆粒在溶液中的分散性能很好，形成類似於單分散的漿液，這樣二者才會很接近，不然測試的激光粒度都要大於電鏡粒度，工業上控制在2倍范圍都是可以的pigfly(站內聯系TA)激光粒徑儀測得的是水合半徑,如果是利用靜電排斥作用穩定的體系,水合半與pH有很大關系,sugucong(站內聯系TA)激光粒徑儀測量的是水溶液，而SEM是顆粒的乾粉，一般情況下激光粒徑儀所得到的結果比SEM的要大至少幾個納米，還有，激光粒徑儀受到各別非常大的顆粒影響很大，而且對溫度，樣品的濃度、單分散性都有很大的影響，但你可以通過多次測量得出一個准確的結果。你可以用一個標准物質與它們進行校正。動態光散射的話是分開來進行測量，然後通過比例進行校正。TEM可以通過樣品之間不同比例的混合，然後通過統計，最後進行校正。這樣你就可以得到你們顆粒的准確粒徑。

2、冷場SEM可以打出Li元素嗎

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3、關於SEM掃描電鏡的幾個問題，求大神出現...

如果是即將開始學習儀器操作的管理人員，建議先系統學習理論知識，再找專業的儀器工程師培訓。如果是學生，要使用電鏡，從安全形度考慮，1、2、3幾項通常是值機人員完成的。我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源，只要能正常開機，一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空，否則氣體電離度大、損傷電子槍，但是電鏡軟體一般都已經設置好，不到工作真空，根本加不上去高壓，所以只要能夠加高壓，也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻後再放氣為宜，主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離，包括平面方向和上下方向，平面方向移動到極限時會有報警提示，看到提示往回移動即可。高度方向也如此，但是要注意向上移動時，要緩慢，要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴，損壞設備；4，電子束與試樣作用，可激發出多種信號，如二次電子信號（用於形貌觀察），背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究），這些信號已經被有效的加以利用，這是一門獨立的學科，若需要詳細了解，你需要系統地學習一下。

4、冷門行業SEM如何推廣?

其實從理論上抄來說，冷門行業的sem推廣精準度會更高。因為知道的人不多，所以只有真的有需求的才會去搜索。對應的，有冷門行業做sem可以把ROI做到20以上的。
比如針對鞋子的防水噴霧產品，建議先把目標人群調查清楚，哪些人會使用這些產品，比如可以去搜一些電商平台類似產品的用戶評價，看看他們在什麼場景下會使用該產品。
其次，可以嘗試做今日頭條的信息流廣告，藉助演算法推薦的力量把對該產品感興趣的用戶先圈起來，前期可以嘗試ocpm（系統自動出價），把創意、圖片、落地頁等結合起來去推，這樣感興趣的用戶自然會點擊你的廣告。
而且頭條目前是可以直接接淘寶電商的，可以直接完成轉化。
再次，因為該類型產品目前還處於市場教育階段，那麼在做sem的同時可以先做seo，做一些長尾詞，把目標用戶遇到的痛點和解決方案以內容營銷的方式鋪起來，先讓大家知道什麼時候可以使用該產品，可以幫忙解決哪些問題。
最後，可以考慮通過工具的方式來提升效率，據我了解，九枝蘭做的就不錯，支持全平台全鏈路的前後端數據打通，更方便的管理多個平台多個賬戶。

5、SEM就可以達到幾十nm，那研究超透鏡的意義何在

你說的應該是那個諾貝爾化學獎的超分辨熒光顯微鏡，在遠場顯微成像范疇，大大超越光學衍射極限，這些顯微鏡應用都以熒光染色為基礎（只有可染色的物質才可以觀察，礦物金屬啥的是實現不了高分辨的）。 一個是以激光共聚焦顯微鏡為基礎，採用雙激光束，確保像素點一部分受激輻射耗盡，無法發光，只有一小部分發光，這樣降低了發光像素尺寸，通過逐點掃描可獲得納米尺度級別微小反差；另一個是採用普通顯微鏡，但染色基團有光開關功能，這樣染色是個十分了得的技術問題，而且後期的圖像是要經過軟體處理才可以提高解析度。

據說對生命科學，研究活體在分子水平的物理化學反應，意義非常重大。

而掃描電鏡電鏡需要高真空環境，特殊樣品制備後，看的其實是屍體！而不是活體。

你說的超透鏡另外一種理解為近場光學的鏡頭，採用超透鏡來放大一個可見光波長范圍內的隱失場波動，從而確定超微結構。

總之光學顯微鏡基本可以保證在大氣環境中進行活體檢測！

6、sem掃描的時候會出現元素分析嗎

如果是即將開始學習儀器操作的管理人員,建議先系統學習理論知識,再找專業的儀器工程師培訓.如果是學生,要使用電鏡,從安全形度考慮,1、2、3幾項通常是值機人員完成的.我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源,只要能正常開機,一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空,否則氣體電離度大、損傷電子槍,但是電鏡軟體一般都已經設置好,不到工作真空,根本加不上去高壓,所以只要能夠加高壓,也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓,等30秒以上,待燈絲冷卻後再放氣為宜,主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離,包括平面方向和上下方向,平面方向移動到極限時會有報警提示,看到提示往回移動即可.高度方向也如此,但是要注意向上移動時,要緩慢,要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴,損壞設備；4,電子束與試樣作用,可激發出多種信號,如二次電子信號（用於形貌觀察）,背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究）,這些信號已經被有效的加以利用,這是一門獨立的學科,若需要詳細了解,你需要系統地學習一下.

7、你好···請問納米級材料粒徑檢測時採用SEM的具體步驟能詳細介紹一下么··謝謝··做實驗有點急用··

其實，SEM只能知道局部的大致粒徑，並不能得到粒徑分布的完整信息。做粒徑分布測試應該通過激光粒度儀來完成，可以輸出完整的粒徑分布曲線報告。
另外，要對經過分散的顆粒（液相）進行SEM拍照，需要再做塗膜後乾燥才能操作，實際上在乾燥的過程中，再小的納米顆粒都會重新團聚到一起了，基本上拍出來的照片看到的應該都是微米級的了。要得到納米材料的真實情況照片，必須保持分散液狀態來做電鏡掃描。