sem能否看出來團聚

1、SEM和TEM的圖不一致，應該是哪個為准呢？

TEM是透射電鏡，主要是觀察材料內層結構，而SEM是場發射掃描電鏡，用於材料表層形貌觀察。。兩種不同的表徵方法測出的圖形自然不同，一般電池正極材料兩種圖形都可以用。重在分析

2、如何用SEM表徵 石墨烯

對氧化石墨烯進行修飾，如接入表面活性劑，或者是烷基胺等以防它團聚，用SEM就可以觀察到它的單片層形貌，但我不知道修飾後觀察到的與沒修飾的形貌會有什麼不同

3、顯微鏡下能看見結構，為什麼sem看不見

原因有可能是：1.沒有調清楚；2.放大倍數不夠；3.物體不在鏡頭下
先排除以上三點後，在查找其他問題

西安測維光電提供

4、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(4)sem能否看出來團聚擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

5、百度sem頁面投放，如何查看投放實況和投放效果？

首先進入百度競價後台→然後點擊如下圖：

這樣就是可以點擊實況，查詢了。

6、你好···請問納米級材料粒徑檢測時採用SEM的具體步驟能詳細介紹一下么··謝謝··做實驗有點急用··

其實，SEM只能知道局部的大致粒徑，並不能得到粒徑分布的完整信息。做粒徑分布測試應該通過激光粒度儀來完成，可以輸出完整的粒徑分布曲線報告。
另外，要對經過分散的顆粒（液相）進行SEM拍照，需要再做塗膜後乾燥才能操作，實際上在乾燥的過程中，再小的納米顆粒都會重新團聚到一起了，基本上拍出來的照片看到的應該都是微米級的了。要得到納米材料的真實情況照片，必須保持分散液狀態來做電鏡掃描。

7、哪位大俠知道看SEM時把材料分散在什麼溶液中比較好？

sem的結果與分散無關，粉末就可以做，沒必要分散