1、SEM與TEM的區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.
區別：
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
2、請教不導電樣品的SEM觀察
嘿嘿 這位同學應該剛剛接觸到這個sem吧！簡單的說吧——由於sem的成像原理是通過detecter獲得二次電子和背散射電子的信號，而若樣品不導電怎或造成樣品表面多餘電子或游離粒子的累積不能及時導走，一定程度後就反復出現充電放電現象（charging)。
3、SEM樣品為什麼噴金
SEM成像原理是用電子束掃描樣品，如果樣品不導電，樣品上就會累積起負電荷，電荷的多少會影響成像質量。噴金以後，樣品上就不會有太多的負電荷。這樣成像比較穩定。
4、什麼是SEM？
5、SEM和TEM區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning
Electronic
Microscopy.
TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission
Electron
Microscope.
區別：
1.
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像.
TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
2.
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
3.
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
6、聚合物想測SEM，如何製作樣品？
既然是看膜，就需要樓主決定要看自然狀態下的膜，還是製品的膜形貌了，製品自然要按照工藝制膜。如果能夠拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的導電膠帶上，處理方式和之前回答你的一樣，噴金、引導電膠。
7、請問大家，SEM樣品都是如何進行前處理的？
用乙醇分散一下，然後塗在導電膠上，最後用洗耳球吹一下，把多餘的吹掉