1、SEM樣品為什麼噴金
SEM成像原理是用電子束掃描樣品，如果樣品不導電，樣品上就會累積起負電荷，電荷的多少會影響成像質量。噴金以後，樣品上就不會有太多的負電荷。這樣成像比較穩定。
2、SEM 實驗
合成堇青石樣品用的高鋁粉煤灰和滑石粉原料及配料的微觀形貌特徵，採用日本日立公司生產的 S-520 掃描電子顯微鏡完成; 燒結試樣的微觀結構分析採用日本電子株式會社生產的 JSM-6390LV 掃描電子顯微鏡完成。將需要觀察的樣品取其新鮮斷面，並用雙面導電膠固定在樣品台上，在離子濺射鍍膜儀中噴鍍一定厚度的鉑金，鍍膜時間設定為 30s，然後放入 SEM 樣品室內進行觀察，並記錄樣品的二次電子圖像 ( 或稱之為形貌像) 。
3、關於SEM掃描電鏡的幾個問題，求大神出現...
如果是即將開始學習儀器操作的管理人員，建議先系統學習理論知識，再找專業的儀器工程師培訓。如果是學生，要使用電鏡，從安全形度考慮，1、2、3幾項通常是值機人員完成的。我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源，只要能正常開機，一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空，否則氣體電離度大、損傷電子槍，但是電鏡軟體一般都已經設置好，不到工作真空，根本加不上去高壓，所以只要能夠加高壓，也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻後再放氣為宜，主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離，包括平面方向和上下方向，平面方向移動到極限時會有報警提示，看到提示往回移動即可。高度方向也如此，但是要注意向上移動時，要緩慢，要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴，損壞設備；4，電子束與試樣作用，可激發出多種信號，如二次電子信號（用於形貌觀察），背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究），這些信號已經被有效的加以利用，這是一門獨立的學科，若需要詳細了解，你需要系統地學習一下。
4、請問大家，SEM樣品都是如何進行前處理的？
用乙醇分散一下，然後塗在導電膠上，最後用洗耳球吹一下，把多餘的吹掉
5、請教各位怎樣拍出大角度的SEM圖
可以有3個方法：
1，制樣的時候將樣品傾斜放置。
2，用傾斜樣品台制樣，有些SEM樣品台配有30，45,60度傾斜的樣品台。
3，高級的SEM，可以講探頭本身傾斜，從而獲得大角度的SEM圖