1、求助微弧氧化膜層截面SEM預處理方法
基材相同的情況下，起弧電壓基本相同，但受電解液的配方不同以及電解液溫度的不同，起弧電壓會稍有浮動。
判斷起弧電壓時，可採用微弧氧化電源的恆流模式，通過觀察弧光的情況判斷：當試樣表面開始出現大量、密集、細小、均勻的白色火花時, 表明已發生火花放電, 隨後火花密度逐漸減小, 火花顏色從白色開始變成桔黃色, 但火花仍然密集均勻, 所形成的膜層緻密, 微孔孔徑較小, 此階段稱之為微弧階段，那麼開始此階段時電源控制箱上顯示出來的電壓值大概為鎂合金的起弧電壓（此階段一般發生在通電後50s——60s）
2、怎麼用SEM看薄膜截斷面
針對怎麼用SEM看薄膜截斷面來回答：
獻峰科技指出：在Si片上鍍一層非晶碳膜（厚度為幾十個nm，導電性能較差），用金剛石刀直接切割出試樣，然後進行SEM觀察，希望得到薄膜的厚度。
第一次去做時表面沒有噴金，看到的斷面效果也很差，很難清楚的看到薄膜與基體的分界面。
希 望 采 納 不 足 可 追 問
3、如何制備SEM樣品的橫斷面
?