sem掃描電鏡分析粒徑

1、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(1)sem掃描電鏡分析粒徑擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

2、XRD分析與電鏡分析在分析粒子粒徑的大小上有何異同

掃描電鏡通過觀測晶粒形貌，放大後使用標尺測量粒徑，或者專業的軟體，對顆粒形態進行綜合表徵，如長軸短軸周長面積等，可以生成粒度直方圖，但由於掃描電鏡一般允許10%左右的放大倍數誤差，因此相應的粒徑尺寸也有較大的誤差。
X射線衍射是通過輸入衍射峰半高寬來對晶粒大小進行估算，相對准確度高。

3、用SEM照片能進行粒度分析？

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4、為什麼掃描電鏡（SEM）的束斑直徑那麼重要

根據阿貝瑞利判據，物點空間解析度相當於物點成像艾里斑的半徑，而掃描電鏡束斑尺寸在很大程度上決定最小物點尺寸。

5、XRD和掃描電鏡得出的粒徑有什麼區別？

XRD算出的粒徑適合於100nm以下的粉末，主要原理是細化導致的衍射峰寬化，是個平均值。

掃描電鏡得出的粒徑就是真實粒徑了，看到多大它就是多大。

6、掃描電鏡譜圖與X-射線衍射得出的粒徑大小有什麼不同

掃描電鏡通過觀測晶粒形貌，放大後使用標尺測量粒徑，或者專業的軟體，對內顆粒形態進行綜合表徵，如長軸短容軸周長面積等，可以生成粒度直方圖，但由於掃描電鏡一般允許10%左右的放大倍數誤差，因此相應的粒徑尺寸也有較大的誤差。
X射線衍射是通過輸入衍射峰半高寬來對晶粒大小進行估算，相對准確度高。