1、怎麼用SEM看薄膜截斷面
針對怎麼用SEM看薄膜截斷面來回答：
獻峰科技指出：在Si片上鍍一層非晶碳膜（厚度為幾十個nm，導電性能較差），用金剛石刀直接切割出試樣，然後進行SEM觀察，希望得到薄膜的厚度。
第一次去做時表面沒有噴金，看到的斷面效果也很差，很難清楚的看到薄膜與基體的分界面。
希 望 采 納 不 足 可 追 問
2、SEM 實驗
合成堇青石樣品用的高鋁粉煤灰和滑石粉原料及配料的微觀形貌特徵，採用日本日立公司生產的 S-520 掃描電子顯微鏡完成; 燒結試樣的微觀結構分析採用日本電子株式會社生產的 JSM-6390LV 掃描電子顯微鏡完成。將需要觀察的樣品取其新鮮斷面，並用雙面導電膠固定在樣品台上，在離子濺射鍍膜儀中噴鍍一定厚度的鉑金，鍍膜時間設定為 30s，然後放入 SEM 樣品室內進行觀察，並記錄樣品的二次電子圖像 ( 或稱之為形貌像) 。
3、sem 樣品台 多大 矽片 切成多大
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