掃描電鏡sem日本電子

1、掃描電鏡SEM和透射電鏡TEM的區別

掃描電鏡，是觀察樣品表面的結構特徵；
透射電鏡，是觀察樣品的內部精細結構。

2、哪種品牌的掃描電鏡比較好？FEI，日本電子，還有？

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3、用掃描電鏡（SEM）做表徵，大概一次要花多少錢？除了中科院和清華大學等學校外，有其他地方做SEM表徵么？

SEM和XRD基本是兩個東西……
SEM看形貌，打能譜看成分，高中生都能懂，但是看組織什麼專的還得學習，操屬作基本可以放給訓練過的人自己做
XRD是分析相組成，速度快不用抽真空，還很便宜，但是數據分析比較麻煩需要專門學習，對晶體學理論要求較高。操作方面我們是考了證就可以自己操作了，也不難學
我的建議是倆都做，畢竟得出的不是一樣的結論，結合在一起會好很多

便宜的SEM現在很多的，不用上高倍的話就更多了，清華很多系裡都有不開放的，北大也有，北科也有，沒用過，企業里也有很多便宜的電鏡

4、請大家幫忙推薦幾本關於掃描電鏡+EDS進行異物分析的書籍，日語或英語的也行

在谷歌上搜一搜，英文的不少。國內張大同著，掃描電鏡能譜應用值得看看，很容易搜到。
這些作者都是具有深厚材料科學知識背景，將一般通用的應用技術分享給大家。
關於你們的具體分析方向，我從這個角度講一下：分析儀器用於分析某個非常具體的分析項目，往往需要花費很多功夫，研究分析方法，這個分析方法是可以注冊專利的。要你說，別人會隨便告訴你嗎？很多時候，跨國企業研究中心，有什麼儀器都不輕易告訴你，更不要提分析方法了。
---我從廠商應用工程師的角度【酷塞目-中國 馳奔】看這個問題。培訓都是一般應用分析方法。
---你們的項目有點類似掃描電鏡能譜在刑偵方面，槍擊殘留物分析；也類似潔凈鋼技術里的夾雜物分析；也類似礦石中不同礦物含量分析；嚴格的說，你們的分析屬於潔凈度分析。這些領域應用非常狹窄，具備這些深厚專業背景的人，將分析方法做成軟體，將其結合到電鏡能譜系統中，就能成立公司，來賣這個產品。

5、關於SEM掃描電鏡的幾個問題，求大神出現...

如果是即將開始學習儀器操作的管理人員，建議先系統學習理論知識，再找專業的儀器工程師培訓。如果是學生，要使用電鏡，從安全形度考慮，1、2、3幾項通常是值機人員完成的。我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源，只要能正常開機，一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空，否則氣體電離度大、損傷電子槍，但是電鏡軟體一般都已經設置好，不到工作真空，根本加不上去高壓，所以只要能夠加高壓，也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻後再放氣為宜，主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離，包括平面方向和上下方向，平面方向移動到極限時會有報警提示，看到提示往回移動即可。高度方向也如此，但是要注意向上移動時，要緩慢，要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴，損壞設備；4，電子束與試樣作用，可激發出多種信號，如二次電子信號（用於形貌觀察），背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究），這些信號已經被有效的加以利用，這是一門獨立的學科，若需要詳細了解，你需要系統地學習一下。

6、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(6)掃描電鏡sem日本電子擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

7、日本電子jsm-6510lv掃描電鏡價格大概多少錢

日本電子JSM-6510LV 走查電子顯微鏡公開報價：170000美元 ，聽說最大折扣可達65折，約為成交價格約為11萬美元左右。
似乎6510、6010掃描電鏡已經被新型號IT-100替代，
新的型號IT-100最高配置估值 10~15萬美元

8、掃描電鏡的se和bse模式有什麼區別

收集信號不同。SE：二次電子；BSE：背散射電子

解析度不同。SE：高；BSE：低

圖像襯度不同。SE：形貌襯度；BSE：質厚襯度

應用目的不同。SE：圍觀立體形貌；BSE：元素、相二維分布