1、SEM 可以測成分嗎
這個是可以測成分的，牛津儀器納米分析部推出了可以在SEM里測量薄膜成分和厚度軟體系統ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS測量薄膜結構的成分和厚度。 這項技術是唯一基於SEM和EDS薄膜分析系統。
2、掃描電鏡（SEM）能測出晶型嗎
理論上單純用SEM不能測出晶型，測晶型一般用XRD等儀器。掃描電鏡只能觀察形貌，解析度可達亞微米級別。
不過對於特定的樣品，如果具有明確的晶型，藉助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一種物質只有區別明顯的兩種晶型，藉助確定的形貌可以推斷是那種晶型）。另外，SEM通過加裝EBSD附件，通過觀察也有可能觀察晶型
3、請問磁性粒子想做SEM怎麼制樣？
我上次做磁性粒子直接做，沒用溶劑滴
，噴下金直接做就好了
4、為什麼掃描電鏡不能測試具有磁性的粉末樣品 而對塊狀樣品則沒有做過多要求
1、最重要的：樣品不要撞到探頭！2、放入樣品前，必須固定好樣品，避免專脫落，粉末屬樣品沒粘牢的要吹掉，避免進入電子槍通道阻塞之；3、放入樣品必須保證乾燥。4、還有一些其他的就不算安全重點了，比如：控制好溫濕度，震動、雜訊不要太大，取放樣品戴手套等等
5、Sem可以測非金屬嗎
老兄，你是說的掃描電子顯微鏡還是sem網路的優化呢?
前者可以運用到生物醫學動物材料化學、物理、地質、冶金、礦物、污泥等等至於後者根據我3年的從業經驗，對於推廣還是感覺百度的本地直通車還行。
6、怎麼檢測一個樣品是不是磁性材料
用吸鐵石吸一下就知道了，能被吸鐵石吸住的是磁性材料，而不能被吸鐵石吸住的就是非磁性材料。