sem參數

1、統計學中「SEM」是什麼意思？

統計學中「SEM」的意思是誤差。

2、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(2)sem參數擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

3、百度指數SEM各項參數到底是什麼意義

百度指數是SEM經常會用到的工具之一，各項參數到底是什麼意義呢？
1.用戶關注度：
反映用戶在百度搜索產品上搜索量的一個指標，用戶關注度數值越大，說明百度上用戶的搜索次數越多
2.媒體關注度：
反映過去30天內百度新聞搜索中與該關鍵詞相關的新聞數量個一個指標，相關新聞越多，媒體關注度數值就越大。
3.上升最快的搜索詞，有助於我們發現新出現的長尾關鍵詞，這類長尾關鍵詞較之那些之前就有的長尾關鍵詞，往往有更低的競爭強度，能帶來更高的投放效果。

4、統計學SEM什麼意思

標准誤(SEM)
英文：Standard Error of Mean標准誤
標准誤，即樣本均數的標准差，是描述均數抽樣分布的離散程度及衡量均數抽樣誤差大小的尺度，反映的是樣本均數之間的變異。
標准誤用來衡量抽樣誤差。標准誤越小，表明樣本統計量與總體參數的值越接近，樣本對總體越有代表性，用樣本統計量推斷總體參數的可靠度越大。因此，標准誤是統計推斷可靠性的指標。
此外，還需要特別指出的是，標准誤還可以指樣本標准差、方差等統計量的標准差，不僅僅只是樣本均數的標准差。

5、求助，統計值SEM是什麼，怎麼算出來的

標准誤(SEM)
英文：Standard Error of Mean標准誤
標准誤，即樣本均數的標准差，是描述均數抽樣分布的離散程度及衡量均數抽樣誤差大小的尺度，反映的是樣本均數之間的變異。
標准誤用來衡量抽樣誤差。標准誤越小，表明樣本統計量與總體參數的值越接近，樣本對總體越有代表性，用樣本統計量推斷總體參數的可靠度越大。因此，標准誤是統計推斷可靠性的指標。
此外，還需要特別指出的是，標准誤還可以指樣本標准差、方差等統計量的標准差，不僅僅只是樣本均數的標准差。

6、如何得出SEM中的自由估計參數個數

這個可以，相對來說比較復雜

7、sem什麼意思

8、掃描電鏡中的WD參數是什麼意思

掃描電鏡中的WD參數是工作距離，樣品成像表面到物鏡的距離。

介於透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。

掃描電鏡的優點是：

①有較高的放大倍數，2-20萬倍之間連續可調；

②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；

③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。

(8)sem參數擴展資料

掃描電子顯微鏡的製造依據是電子與物質的相互作用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

當一束極細的高能入射電子轟擊掃描樣品表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。同時可產生電子-空穴對、晶格振動（聲子)、電子振盪（等離子體）。

從數量上看，彈性背反射電子遠比非彈性背反射電子所佔的份額多。 背反射電子的產生范圍在100nm-1mm深度。

背反射電子產額和二次電子產額與原子序數的關系背反射電子束成像解析度一般為50-200nm（與電子束斑直徑相當）。背反射電子的產額隨原子序數的增加而增加，所以，利用背反射電子作為成像信號不僅能分析形貌特徵，也可以用來顯示原子序數襯度，定性進行成分分析。

9、如何計算SEM中的自由度

這里的「數據提供的信息」有兩種演算法。一種是計算數據中observed variables indicators (變數)
之間的相關系數（correlations）的個數，一般用k來表示變數的個數，其相關系數的個數則為 k X
(k–1) / 2。如你的例子中有12個變數，它們之間的相關系數應該有12 X 11 / 2 = 66。

另一種是計算數據所有變數之間的variance-covariance (方差－協方差) 的個數，公式為 k X (k + 1) / 2。在本例中，共有

12 X 13 /2 = 78。

「模型所需的信息」也有兩種對應的演算法。與相關系數對應的演算法是模型中所需估計的parameters
(參數)，包括factor loadings (因子負荷，即λ，本例中有12個)、coefficients of exogenous factors
(自變數因子對因變數因子的影響系數，即γ,本例中有2個)、 coefficients of endogenous factors
(因變數因子對因變數因子的影響系數，即в,本例中有1個)，三者相加共有 12 + 2 + 1 = 15個參數需要被估計。

如果按方差-協方差計算的話，那麼需要被估計的參數，除了以上的λ、γ和в以外，還需要加上每個errors
of indicators（變數的殘差，即δ和ε，本例中有12個），四者相加為 12 + 2 + 1 + 12 = 27。

好了，我一開始說的「自由度是數據提供的信息與模型所需的信息之差」就是 66 – 15 ＝ 51
或者 78 – 27 ＝
51。這就是你用LISREL算出的結果。不管用相關系數還是方差-協方差來算，結果都一樣（一定而且必須一樣，不然不就亂套了嗎？）。

再講幾句題外話。一個模型的自由度多好還是少好？這有點象「我們應該把錢藏在枕頭底下好、還是消費享受」的問題。前者為了將來幸福而眼下受苦，而後者眼下痛快、將來痛苦。統計中的自由度當然有不同的含義，但有些道理大概是相通的。從理論上講，一個模型用的參數越少、其自由度就越大，因此越符合parsimony（簡約性)的原則。但是，參數越少，模型的goodness
of
fit(擬合度)就越差，這時，自由度再多有什麼用（不就成了把錢壓在枕頭下了嗎）？當然，亂用自由度也是會受到懲罰的，如果估計的參數大於數據的信息，就會碰到Over-fit（「過度擬合」）的問題，如果嚴重到「自由度透支」，LISREL或其它軟體會自動罷工，拒絕執行