1、超細銀粉sem制樣怎麼做
（1）對清洗過後的溶液，進行稀釋過後採用的是上清液做測試還是下層濃溶液測試（理論粒徑為50nm和200nm）
最好都測試一下，二者可能尺寸上面有區別。
（2）銀粉溶液制備成功以後，沒有立即表徵，遮光靜置幾天後，再做電鏡表徵，是否有影響
只要排除對於樣品無影響，可以。
（3）是否需要乾燥以後，取出粉末，再用乙醇溶解，取用這個溶液制樣
可以滴在導電矽片上。也可以做粉末置於導電膠上。
2、有機聚合物多孔材料的SEM制樣.求助
既然是看膜，就需要樓主決定要看自然狀態下的膜，還是製品的膜形貌了，製品自然要按照工藝制膜。如果能夠拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的導電膠帶上，處理方式和之前回答你的一樣，噴金、引導電膠。
3、納米膠體溶液要做SEM，怎麼制樣
膠體實際能叫做溶液膠體溶液並列都屬於散系其本質區別面溶質（散質）粒徑同膠體指粒徑1-100納米散質溶液於1納米
感覺這樣的提問沒有什麼意義
建議看看書，查查資料
4、SEM制樣如何讓納米粒子整齊有序地排列?
固體樣品可以直接看SEM，不過粉體一定要非常少，用個鑷子撒一點點上去，然後用吹掉多餘的部分。也可以先分散在酒精中，超聲分散30min，吸一滴到樣品台上，讓它風干
5、用SEM觀察粉體顆粒的形貌像的時候如何制樣比較好？
將樣品用美工刀尖取少量，抹在C膠帶上，用洗耳球吹，用塑料膜將粉末壓緊，噴金，觀察。
6、SEM制樣你會嗎
對試樣的要求
試樣可以是塊狀也可以是粉末狀,在真空中能保持穩定,含水分的式樣應該先烘乾除去水分。表面受到污染的樣品，要在不破壞試樣結構的情況下清洗烘乾。新斷開的斷口或斷面，一般不需要進行處理，以免破壞斷口或斷面的結構形態．對磁性樣品要求預先去磁，以免觀察時電子束受磁場影響．
2．塊狀樣品
對於導電樣品，除了大小要適合儀器樣品座尺寸外，基本不需進行其他制備，用導電膠把樣品粘在樣品座上，即可放在掃描電鏡下觀察．對於非導電或導電性差的樣品，要進行鍍膜處理，在材料表面鍍一層導電膜，以避免在電子束照射下產生電荷積累，影響圖象質量，並可以防止樣品的熱損傷．
3．粉末樣品
需黏結在樣品座上，黏結方法是可以在樣品座上先貼一層導電膠或火棉膠溶液，將試樣撒在上面，待試樣被粘牢後用吸耳球將表面未被粘住的樣品吹去．也可將樣品制備成懸浮液滴在樣品台上，待溶液揮發粉末附在樣品座上．樣品粘在樣品座上，需再鍍層導電膜，然後才能放在掃描電鏡下觀察．
[search]掃描電鏡樣品植被方法[/search]
僅供參考（詳細訪問：網頁鏈接）
7、SEM與TEM的區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.
區別：
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
8、乳液做的樣品在做SEM時該怎麼制樣？
掃描電鏡只能對樣品表面進行成像，即使是液相，也只能是液體表面，這個在環境掃描電鏡中已經成功試驗過，觀察水蒸氣在玻璃板上的凝聚和蒸發過程，液滴的表面形貌清晰可見。無論傳統掃描電鏡還是環境真空掃描電鏡都必須把懸濁液中物質表面從液體中暴露出來，否則都無法觀察到懸濁物的形態。由於制樣原因，可能造成乳液中的懸浮物凝聚或者變形，所以你沒辦法用提取的懸濁物的辦法來實現SEM觀察。 解決方案只有掃描電鏡配冷凍台來進行觀察，一般液體快速冷凍然後割斷觀察斷口，會看到您想看的相。
顯微鏡通過載玻片制樣後，乳液中的疏水物質在液體中清晰可見，使用的穿透光，而不是反射光。