1、掃描電鏡的那個小檯子怎麼說
樣品台 stage
2、掃描電鏡中選了某個樣品台後，為何從鏡頭中看著不是在正下方啊？是攝像頭的原因？還是燈絲不對中啊？
你的掃描光柵電位移可能不在零位，
3、怎麼區分電鏡的樣品台？什麼情況下使用什麼樣的樣品台？
形狀不同的話應該是根據你的樣品要測的信息，比如有直接看形貌的也有看側面信息（如截面）等，材質不同不知道該如何區分。
4、sem se2模式和inlens模式的區別
SE1和SE2指的是不同的信號，不同的探測器，換句話說就是用不同的探測器接收不同的信號。
SE1是內置在鏡筒的二次電子探頭，有的型號蔡司電鏡這個探頭也叫Inlens，只接收SE1（入射電子束直接激發的二次電子，產生范圍較小）。
SE2在場發射電鏡中樣品室內的樣品台側邊二次電子探頭，接收SE2（入射到樣品中的電子激發出的二次電子，產生范圍較大）。
因為SE1產生范圍小，可以在小工作距離下工作，SE2產生范圍大，需要一定的工作距離，因此SE1解析度相對高一點
5、關於SEM掃描電鏡的幾個問題，求大神出現...
如果是即將開始學習儀器操作的管理人員，建議先系統學習理論知識，再找專業的儀器工程師培訓。如果是學生，要使用電鏡，從安全形度考慮，1、2、3幾項通常是值機人員完成的。我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源，只要能正常開機，一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空，否則氣體電離度大、損傷電子槍，但是電鏡軟體一般都已經設置好，不到工作真空，根本加不上去高壓，所以只要能夠加高壓，也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻後再放氣為宜，主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離，包括平面方向和上下方向，平面方向移動到極限時會有報警提示，看到提示往回移動即可。高度方向也如此，但是要注意向上移動時，要緩慢，要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴，損壞設備；4，電子束與試樣作用，可激發出多種信號，如二次電子信號（用於形貌觀察），背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究），這些信號已經被有效的加以利用，這是一門獨立的學科，若需要詳細了解，你需要系統地學習一下。
6、掃描電鏡樣品的處理
關鍵看你的實驗目的是什麼。
如果A樣品和B樣品是兩個單獨的實驗，不用做橫向對比，那麼用不同的制樣方法沒有什麼問題。
如果兩個樣品在合成制備過程中用了不用的方法或者條件，要用SEM做橫向比對，制備的結果。那麼，最好用同樣的制樣方法。否則，即使你在SEM下看到了明顯不同的結果，你也難以判斷是由於SEM制樣方法不同造成的，還是，由於合成制備方法不同造成的影響。
如果超聲是你樣品合成制備過程的一部分，因而，有必要比較超聲前和超聲後樣品的區別。那麼，對於兩個平行樣品，一個樣品經過超聲處理，一個樣品直接乾燥，是很合理的實驗安排。可以探討超聲過程（工藝）對最終結果的影響。
總之，對於SEM儀器或者這個表徵手段來說，超聲或者不超聲，做出來的樣品，是可以放到一起觀察的。問題的關鍵在於你想知道什麼。
7、請教各位怎樣拍出大角度的SEM圖
可以有3個方法：
1，制樣的時候將樣品傾斜放置。
2，用傾斜樣品台制樣，有些SEM樣品台配有30，45,60度傾斜的樣品台。
3，高級的SEM，可以講探頭本身傾斜，從而獲得大角度的SEM圖