1、SEM与TEM的区别
SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.
区别：
SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。
SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。
TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。
2、透射电镜中成像的衬度来源主要有哪些
晶体衍射衬度
质厚衬度
3、化探工作中,什么叫衬度
这只是一个概念，在测区范围内，首先统计计算某个元素的“背景值”，再由“背景值”除以“单点值”，就是“衬度值”，即 衬度=单点值/背景值。
4、何谓衬度？tem主要有哪几种衬度？都是如何产生的
让我来告诉你：
透射电镜TEM衬度的形成,物镜后焦面是起重要作用的部位。
电子经样品散射后，相对光轴以同一角度进入物镜的电子在物镜后焦面上聚焦在一个点上。散射角越大，聚焦点离轴越远,如果样品是一个晶体,在后焦面上出现的是一幅衍射图样。与短晶面间距（或者说"高空间频率"）对应的衍射束被聚焦在离轴远处。在后焦面上设有一个光阑。它截取那一部分电子不但对衬度，而且对分辨本领有直接的影响。如果光阑太小，把需要的高空间频率部分截去，那么和细微结构对应的高分辨信息就丢失了（见阿贝成像原理）。
样品上厚的部分或重元素多的部分对电子散射的几率大。透过这些部分的电子在后焦面上分布在轴外的多。用光阑截去部分散射电子会使"质量厚度"大的部位在像中显得暗。这种衬度可以人为地造成，如生物样品中用重元素染色，在材料表面的复形膜上从一个方向喷镀一层金属，造成阴阳面等。散射吸收(指被光阑挡住)衬度是最早被人们所认识和利用的衬度机制。就表面复型技术而言，它的分辨本领可达几十埃。至于晶体样品的衍衬像和高分辨的点阵像的衬度来源，见点阵像和电子衍衬像
电镜衬度分类
电镜衬度分四类：质厚衬度，衍射衬度，相位衬度，Z衬度。TEM是利用相位衬度。
我知道所以你知道！
5、扫描电镜(SEM)中表面形貌衬度和原子序数衬度各有什么特点
?
6、化探测量中的衬度公式是什么
我是资源勘查的，地球化学课上学过衬度，不知道是不是你要找的这个衬度值：异常中指示元素的平均含量与该元素的背景上限的比值（¯C/Ca），用来表示异常强度希望能帮到你
7、透射电镜与扫描电镜的衬度来源有何不同？为什么有些结构在TEM是黑色的,而在SEM白色的
通俗的说 扫描电镜是相当与对物体的照相 得到的是表面的 只是表面的 立体三维的图象 因为扫描的原理是“感知”那些物提被电子束攻击后发出的此级电子 而透射电竟就相当于普通显微镜 只是用波长更短的电子束替代了会发生衍射的可见光 从而实现了显微 是二维的图象 会看到表面的图象的同时也看到内层物质 就想我们拍的X光片似的 内脏骨骼什么的都重叠着显现出来 总结就是透射虽然能看见内部但是不立体 扫描立体但是不能看见内部 只局限与表面
8、SEM背散射电子下，原子系数越大是越亮还是越暗，二次电子下是不是相反的。
背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜装机的二次电子产率就很高了，所以二次电子像是跟样品观察角度有关的。