sem照片怎么知道粒径

1、怎么计算sem中粉末的粒径分布

不需要吧，不过这种方法貌似误差比较大，最直观的就是做透射电镜，然后用image j统计比较准确~~ 可是我觉得报告里的粒径不大正确，而且测试的老师也说让我自己计算，一起计算的不准确！fangxingxue(站内联系TA)我们做了以后发现数据波动很厉害，所以说 用zetasizer测定颗粒平均粒径不大准，建议用透射吧

2、如何从照片中计算颗粒粒径,有哪些软件?

化学方面可能会有专业软件吧
如果一般软件
你可以试试photoshop
里面有个度量工具
度量出结果后再根据比例换算一下
没试过
只是设想……

3、通过扫描电镜或透射电镜图片上的颗粒大小 做出相应粒径大小的柱状分布图（横坐标为粒径尺寸，纵坐标为峰强

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4、如何在SEM图像中测量纳米线的直径与长度

胶体实际能叫做溶液胶体溶液并列都属于散系其本质区别面溶质（散质）粒径同胶体指粒径1-100纳米散质溶液于1纳米
感觉这样的提问没有什么意义
建议看看书，查查资料

5、用SEM照片能进行粒度分析？

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6、透射电镜照片的粒径怎么算啊

如果是CCD照的照片，直接可以用digitalmicrography软件上面的标尺工具量，如果是negative，则只能是比对上面的bar人工测量了。你可以给我照片我帮你量。

7、SEM扫描电镜图怎么看，图上各参数都代表什么意思

1、放大率：

与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

2、场深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积：

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离：

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象：

次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。

6、表面分析：

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法：

如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。

(7)sem照片怎么知道粒径扩展资料：

SEM扫描电镜图的分析方法：

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。