1、如何在sem图上标尺度,用什么软件？图片已经扫描回来了。大概是纳米级的，图上已经有标准长度给出。
可以用image tools 或者image pro plus ，前者是个免费的小软件，后者网上有破解版的
2、【求助】如何计算晶粒度
最好说一下你的样品是什么样子的，等轴的，非等轴的都不一样，详细点说就是整个标准读一下cqw007(站内联系TA)我是做硬质合金的，怎么测量？xufengneu(站内联系TA)扫描截距法测量WC的晶粒度啊风雨过后(站内联系TA)你也可以直接做一下XRD，用德拜谢乐公式应该可以计算出来，就不用量了:D:Dsunggcc(站内联系TA)先做XRD分析，然后根据德拜谢乐公式算。有的不用自己算，可以直接得到数据。jic8417(站内联系TA)照个X射线，用XRD分析软件一弄就出来了。nofail(站内联系TA)用XRD是个好办法，不过要记得谢乐公式的使用范围，lz的晶粒度范围可能不在此公式内cqw007(站内联系TA)Originally posted by xufengneu at 2010-09-14 16:54:51:扫描截距法测量WC的晶粒度啊 能说具体些吗？sourbing(站内联系TA)XRD分析的晶粒度准确么？至少我不认同，不如金相直观，而且对于一个样品，平均晶粒度是指整个视场下的平均衡量，除非你能保证晶粒度均匀，否则xrd局限性很大，况且算出来的不如直观的。在金相显微镜下观察晶粒形貌，如果是等轴的，按平均晶粒度标准上的比较法，和标准图谱进行比较，类似几级就是几级，比较就是选定一个能代表整个样品晶粒度的视场和标准图比。如果不是等轴的，说白了就是晶粒大小差别很大，可以采用面积法或截距法来做，具体标准上有很详细的说明。如何通过XRD测晶胞参数、晶粒度等啊
3、【请教】从SEM图片中计算颗粒体积分数该用什么软件？
markblue(站内联系TA)先用PHOTOSHOP处理下图片，调调对比度等等，用IMAGE pro可以进行不错的分析beam21(站内联系TA)ID:中文核心
只能告诉软件名称与文章出处：The CSD Corrections program of Higgins（Higgins M.D.(2000)Measurement of crystal size distributions.Am. Mineral. 85:1105-1116）unidirection(站内联系TA)我也需要求他们的体积分数，以上说的是方法是不是仅仅只能用来测量一张照片的体积分数啊？但是如何求整个全部的体积分数呢？gywu0420(站内联系TA)谢谢啊！！！我也急需啊！！帮忙发一个过来：[email protected](站内联系TA)Originally posted by gentle8306 at 2008-12-18 08:57:
4、XRD晶粒尺寸计算
利用谢乐公式来计算
谢乐公式的应用方法Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ为X 射线波长, B为衍射峰半高宽, θ 为衍射角) 双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力 晶块尺寸小于0.1μm，且有不均匀应变时衍射线宽化。可用谢乐方程或Hall法作定量计算。 1 衍射线宽化的原因 用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化和试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变（微观应变）和堆积层错（在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴）。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。 2 谢乐方程 若假设试样中没有晶体结构的不完整引起的宽化，则衍射线的宽化仅是由晶块尺寸造成的，而且晶块尺寸是均匀的，则可得到谢乐方程： 式中Size表示晶块尺寸（nm），K为常数，一般取K=1，λ是X射线的波长(nm)，FW（S）是试样宽化(Rad)，θ则是衍射角(Rad)。 计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线来代替。此式适用范围为1-100nm。 3 微观应变引起的线形宽化 如果存在微观应力，衍射峰的加宽表示为： 式中Strain表示微观应变，它是应变量对面间距的比值，用百分数表示。 4 Hall方法 测量二个以上的衍射峰的半高宽FW（S），由于晶块尺寸与晶面指数有关，所以要选择同一方向衍射面，如（111）和（222），或（200）和（400）。以 为横坐标，作 图，用最小二乘法作直线拟合，直线的斜率为微观应变的两倍，直线在纵坐标上的截距即为晶块尺寸的倒数。 5 半高宽、样品宽化和仪器宽化 样品的衍射峰加宽可以用半高宽来表示，样品的半高宽FWHM是仪器加宽FW（I）和样品性质（晶块尺寸细化和微观应力存在）加宽FW（S）的卷积。 为了求得样品加宽FW（S），必须建立一个仪器加宽FW（I）与衍射角θ之间的关系，也称为FWHM曲线。 该曲线可以通过测量一个标样的衍射谱来获得。标样应当与被测试样的结晶状态相同，标样必须是无应力且无晶块尺寸细化的样品，晶粒度在25μm以上，如NISTA60Si和LaB6等 注意事项：1晶粒大于100纳米以上，用谢乐公式不太准确，因为其半高宽的原因。最准确的是在40nm左右，但是，低于100nm我们都用谢乐公式来算2 谢乐公式只适合球形粒子 对立方体粒子 常数应改为 0.943 半高宽应该转化为弧度制 半高宽/180 再乘以 3.14
5、求助Jade计算出来的晶粒尺寸大小趋势和SEM图相反是什么原因呢？
X
6、如何用imageJ求TEM图像中的晶粒尺寸分布
用imageJ求TEM图像中的晶粒尺寸分布的方法：
用ImageJ打开一幅图，然后选Straight Lines，在bar上量一下，然后在菜单中的Analyze中选Set Scale，在Known Distance 填上bar所代表的长度。然后就可以量了，用Straight Lines量距离，然后按住Ctrl+m就可以显示了。
ImageJ是一个基于java的公共的图像处理软件，它是由National Institutes of Health开发的。可运行于Microsoft Windows，Mac OS，Mac OS X，Linux，和Sharp Zaurus PDA等多种平台。其基于java的特点， 使得它编写的程序能以applet等方式分发。
7、知道XRD结果，如何从XRD数据中计算出晶粒的大小
jade
计算的是全谱的粒径大小，如果你的样品做的比较好
测出来的各个峰对应的粒径大小差别不大
如果样品不太好
直接在仪器上计算出来的是最强峰对应的粒径大小
就看你想要哪个数据了