1、谢乐公式计算晶粒尺寸
你可以直接用Jade软件处理,里面可以自动去背景,自动用谢乐公式计算晶粒尺寸,可把三强峰的晶粒尺寸都算一下,然后获得平均值.另外,Jade软件只能计算小于1000nm的晶粒尺寸.
2、XRD晶粒尺寸计算
利用谢乐公式来计算
谢乐公式的应用方法Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ为X 射线波长, B为衍射峰半高宽, θ 为衍射角) 双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力 晶块尺寸小于0.1μm，且有不均匀应变时衍射线宽化。可用谢乐方程或Hall法作定量计算。 1 衍射线宽化的原因 用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化和试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变（微观应变）和堆积层错（在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴）。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。 2 谢乐方程 若假设试样中没有晶体结构的不完整引起的宽化，则衍射线的宽化仅是由晶块尺寸造成的，而且晶块尺寸是均匀的，则可得到谢乐方程： 式中Size表示晶块尺寸（nm），K为常数，一般取K=1，λ是X射线的波长(nm)，FW（S）是试样宽化(Rad)，θ则是衍射角(Rad)。 计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线来代替。此式适用范围为1-100nm。 3 微观应变引起的线形宽化 如果存在微观应力，衍射峰的加宽表示为： 式中Strain表示微观应变，它是应变量对面间距的比值，用百分数表示。 4 Hall方法 测量二个以上的衍射峰的半高宽FW（S），由于晶块尺寸与晶面指数有关，所以要选择同一方向衍射面，如（111）和（222），或（200）和（400）。以 为横坐标，作 图，用最小二乘法作直线拟合，直线的斜率为微观应变的两倍，直线在纵坐标上的截距即为晶块尺寸的倒数。 5 半高宽、样品宽化和仪器宽化 样品的衍射峰加宽可以用半高宽来表示，样品的半高宽FWHM是仪器加宽FW（I）和样品性质（晶块尺寸细化和微观应力存在）加宽FW（S）的卷积。 为了求得样品加宽FW（S），必须建立一个仪器加宽FW（I）与衍射角θ之间的关系，也称为FWHM曲线。 该曲线可以通过测量一个标样的衍射谱来获得。标样应当与被测试样的结晶状态相同，标样必须是无应力且无晶块尺寸细化的样品，晶粒度在25μm以上，如NISTA60Si和LaB6等 注意事项：1晶粒大于100纳米以上，用谢乐公式不太准确，因为其半高宽的原因。最准确的是在40nm左右，但是，低于100nm我们都用谢乐公式来算2 谢乐公式只适合球形粒子 对立方体粒子 常数应改为 0.943 半高宽应该转化为弧度制 半高宽/180 再乘以 3.14
3、关于晶粒度计算公式?
第二个公式是根据立方体的体积计算公式和表面积计算公式的差别推导出来的！也就是说假设催化剂颗粒是立方体形的！第一个不是很清楚，好像是根据球形颗粒推导出来的！好像还有其他假设？
4、知道XRD结果，如何从XRD数据中计算出晶粒的大小
jade 计算的是全谱的粒径大小，如果你的样品做的比较好 测出来的各个峰对应的粒径大小差别不大 如果样品不太好 直接在仪器上计算出来的是最强峰对应的粒径大小 就看你想要哪个数据了
5、【求助】如何计算晶粒度
最好说一下你的样品是什么样子的，等轴的，非等轴的都不一样，详细点说就是整个标准读一下cqw007(站内联系TA)我是做硬质合金的，怎么测量？xufengneu(站内联系TA)扫描截距法测量WC的晶粒度啊风雨过后(站内联系TA)你也可以直接做一下XRD，用德拜谢乐公式应该可以计算出来，就不用量了:D:Dsunggcc(站内联系TA)先做XRD分析，然后根据德拜谢乐公式算。有的不用自己算，可以直接得到数据。jic8417(站内联系TA)照个X射线，用XRD分析软件一弄就出来了。nofail(站内联系TA)用XRD是个好办法，不过要记得谢乐公式的使用范围，lz的晶粒度范围可能不在此公式内cqw007(站内联系TA)Originally posted by xufengneu at 2010-09-14 16:54:51:扫描截距法测量WC的晶粒度啊 能说具体些吗？sourbing(站内联系TA)XRD分析的晶粒度准确么？至少我不认同，不如金相直观，而且对于一个样品，平均晶粒度是指整个视场下的平均衡量，除非你能保证晶粒度均匀，否则xrd局限性很大，况且算出来的不如直观的。在金相显微镜下观察晶粒形貌，如果是等轴的，按平均晶粒度标准上的比较法，和标准图谱进行比较，类似几级就是几级，比较就是选定一个能代表整个样品晶粒度的视场和标准图比。如果不是等轴的，说白了就是晶粒大小差别很大，可以采用面积法或截距法来做，具体标准上有很详细的说明。如何通过XRD测晶胞参数、晶粒度等啊
6、求助Jade计算出来的晶粒尺寸大小趋势和SEM图相反是什么原因呢？
X
7、XRD计算晶粒尺寸问题求助?
你可以直接用Jade软件处理，里面可以自动去背景，自动用谢乐公式计算晶粒尺寸，可把三强峰的晶粒尺寸都算一下，然后获得平均值。另外，Jade软件只能计算小于1000nm的晶粒尺寸。
8、bet中测量的数据如何计算晶粒尺寸
纳米材料的界面分析
物质的尺寸到了纳米级别后由于表面电子能级的变化,导致纳米材料具有许多奇特的性能,从而使其具备奇异性和反常性,能使多种多样的材料改性,用途极为广泛. 纳米效应包括的表面效应，量子尺寸效应，体积效应，宏观量子隧道效应界面相关效应等
表面效应
纳米材料尺寸小.表面能高,位于表面原子占相当大的比例,随着原子粒径的减小,表面原子数目迅速增加,原子配位数不足和高的表面能使这些原子具有高的活性.极不稳定和容易与别的原子结合.
量子尺寸效应
能级间距随着原子尺寸的减小而增大,当热能磁场能和电场能比平均能级间距还小时,就会呈现和宏观物体截然不同的特性称为量子尺寸效应.
体积效应
当超细微粒的尺寸和波长与光波波长和的布罗意波长等物理尺寸相当或更小时,晶体周期性边界条件被破坏,导致声,光,电磁,热力学等特征方面出现一些新的变化.
宏观量子尺寸效应
是指纳米颗粒具有贯穿是累的能力，界面相关效应,纳米结构材料中有大量的界面,具有反常高的扩散率,比如纳米铜材料的超塑性.
纳米材料是处在0.1—100nm尺寸范围内，用肉眼和普通显微镜难以观测其显微结构。纳米微粒尺寸的表征，由于实验手段的不一，采用的表征技术各异，各种方法间有一定的差异。这里，我们来描述几种表示方法。
一、X射线法
在多相催化的催化剂研究中，往往需要对催化剂的活性组分及载体进行晶粒大小测定，因为催化剂的性能如活性、选择性、比表面积、孔容、强度及寿命等都直接与其晶粒大小有着密切的关系。在研制新催化剂制备工艺条件或对已使用过的催化剂了解其物性变化、机械强度、失活原因等，也需要考虑其晶粒大小的变化，所有这些都需要晶粒大小的测定。
电镜观察法测量的是颗粒度而不是晶粒度，X-射线衍射线宽法是测定颗粒晶粒度的最好方法。它具有简便、快速和直观的优点。当颗粒为单晶时，该法测得的是颗粒度；当颗粒为多晶时，该法测得的是组成单个颗粒的单个晶粒的平均晶粒度。
许多物质实际上是由许多细小晶体紧密聚集而成有二次聚集态，这些细小的单晶称为一次聚集态，即晶粒。当晶粒在200nm以下，晶粒中晶面数目减少，衍射线条弥散而产生明显的宽化，晶粒越小，衍射线条的宽化越严重，使衍射强度在2θ+Δθ范围内有一个较大分布。当晶体内不存在应力和缺陷时，可以利用晶粒大小与衍射线宽化程度的关系来测量