1、请问SEM，STM，AFM在应用上的区别
SEM是扫描电镜，所加电压比较低，只是扫描用的，相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜，所加电压高，可以打透样品,AFM一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
2、电子显微镜，原子力显微镜，扫描隧道显微镜....的区别
电子显微镜，原子力显微镜，扫描隧道显微镜.的区别：
一．扫描电镜的特点 和光学显微镜及透射电镜相比，扫描电镜具有以下特点：
(一) 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(二) 样品制备过程简单，不用切成薄片。
(三) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。
(四) 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。
(五) 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。
(六) 电子束对样品的损伤与污染程度较小。
(七) 在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。
二·原子力显微镜
原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
相对于扫描电子显微镜，原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子，甚至活的生物组织。原子力显微镜与扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）相比，由于能观测非导电样品，因此具有更为广泛的适用性。当前在科学研究和工业界广泛使用的扫描力显微镜，其基础就是原子力显微镜。
三·扫描隧道显微镜
① 高分辨率 扫描隧道显微镜具有原子级的空间分辨率，其横向空间分辨率为 l，纵向分辨率达0.1，
② 扫描隧道显微镜可直接探测样品的表面结构，可绘出立体三维结构图像。
③ 扫描隧道显微镜可在真空、常压、空气、甚至溶液中探测物质的结构。由于没有高能电子束，对表面没有破坏作用(如辐射， 热损伤等)所以能对生理状态下生物大分子和活细胞膜表面的结构进行研究，样品不会受到损伤而保持完好。
④ 扫描隧道显微镜的扫描速度快，获取数据的时间短，成像也快，有可能开展生命过程的动力学研究。
⑤ 不需任何透镜， 体积小，有人称之为"口袋显微镜"(pocket microscope)。
3、扫描电镜和透射电镜哪个好，各有什么特点，哪个贵啊？
我以前也毕设也做过电镜，是大肠杆菌的细胞表面的纳米金属颗粒，扫描电镜，透射电镜两专个都做了。最后写论属文的时候就用了扫描电镜的图，你说看主要做形貌，凡是需要看物质表面形貌的，都可以用扫描电镜，不过要要注意扫描电镜目前分辨率，看看能否达到实验要求。
两种测试手段的适用情况
凡是需要看物质表面形貌的，都可以用扫描电镜，不过最好的扫描电镜目前分辨率在0.5~1nm左右。如果需要进一步观察表面形貌，需要使用扫描探针显微镜spm（afm，stm).
如果需要对物质内部晶体或者原子结构进行了解，需要使用tem.
例如钢铁材料的晶格缺陷,细胞内部的组织变化。当然很多时候对于nm
材料的形态也使用tem观察。
区别
扫描电镜观察的是样品表面的形态，而透射电镜是观察样品结构形态的。一般情况下，透射电镜放大倍数更大，真空要求也更高。
扫描电镜可以看比较“大”的样品，最大可以达到直径200mm以上，高度80mm左右，而透射电镜的样品只能放在直径3mm左右的铜网上进行观察。
4、扫描电镜与原子力显微镜
当分辨率在纳米和原子范围时，扫描电镜（SEM）和原子力电镜（AFM）是我们今天可以获得的最有效的两种显微技术，各有优劣。它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。SEM需要在真空环境中进行，而AFM是在空气中或液体环境中操作。因此如果是要测定液体中细微颗粒的形态，AFM更为适合一些。通常AFM扫描含水的试样是把它和扫描探针放在液体中进行的，因为AFM不是以导电性为基础，所以图像和扫描模件在液体中都不会受干扰。
5、原子力显微镜和扫描电镜的异同点
原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。
6、西安哪里可以进行AFM-原子力显微镜，SEM-扫描电镜，和XPS（X射线光电子能谱分析）测试？
我江苏的可以 联系[email protected] 样品邮寄我可以测SEM 迅速给测
7、请问场发射扫描电子显微镜与普通扫描电镜相比有哪些区别
二次电子象分辨率：1.5nm 加速电压：0～30kV 放大倍数：10-50万倍连续可调工作距离：5～35mm连续可调倾斜：-5°～45° x射线能谱仪： 分辨率：133eV 分析范围：B-U
附件信息： 镀金镀炭仪 ISIS图像处理系统背散射探头
场发射扫描电镜，由于分辨率高，为纳米材料的研究提供了可靠的实验手段
8、SEM、TEM、TG、XRD、AFM、红外光谱，这几个分别是测什么的？
测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。
区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收峰的位置与强度反映了分子结构上的特点，可以用来鉴别未知液态水的红外光谱物的结构组成或确定其化学基团；而吸收谱带的吸收强度与化学基团的含量有关，可用于进行定量分析和纯度鉴定。l红外主要用于有机化合物的结构鉴定在有机化学、生物化学、药物学、环境科学等许多领域。