1、求助微弧氧化膜层截面SEM预处理方法
基材相同的情况下，起弧电压基本相同，但受电解液的配方不同以及电解液温度的不同，起弧电压会稍有浮动。
判断起弧电压时，可采用微弧氧化电源的恒流模式，通过观察弧光的情况判断：当试样表面开始出现大量、密集、细小、均匀的白色火花时, 表明已发生火花放电, 随后火花密度逐渐减小, 火花颜色从白色开始变成桔黄色, 但火花仍然密集均匀, 所形成的膜层致密, 微孔孔径较小, 此阶段称之为微弧阶段，那么开始此阶段时电源控制箱上显示出来的电压值大概为镁合金的起弧电压（此阶段一般发生在通电后50s——60s）
2、怎么用SEM看薄膜截断面
针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：
献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。
第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄膜与基体的分界面。
希 望 采 纳 不 足 可 追 问
3、如何制备SEM样品的横断面
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