扫描电镜sem日本电子

1、扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别

扫描电镜，是观察样品表面的结构特征；
透射电镜，是观察样品的内部精细结构。

2、哪种品牌的扫描电镜比较好？FEI，日本电子，还有？

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3、用扫描电镜（SEM）做表征，大概一次要花多少钱？除了中科院和清华大学等学校外，有其他地方做SEM表征么？

SEM和XRD基本是两个东西……
SEM看形貌，打能谱看成分，高中生都能懂，但是看组织什么专的还得学习，操属作基本可以放给训练过的人自己做
XRD是分析相组成，速度快不用抽真空，还很便宜，但是数据分析比较麻烦需要专门学习，对晶体学理论要求较高。操作方面我们是考了证就可以自己操作了，也不难学
我的建议是俩都做，毕竟得出的不是一样的结论，结合在一起会好很多

便宜的SEM现在很多的，不用上高倍的话就更多了，清华很多系里都有不开放的，北大也有，北科也有，没用过，企业里也有很多便宜的电镜

4、请大家帮忙推荐几本关于扫描电镜+EDS进行异物分析的书籍，日语或英语的也行

在谷歌上搜一搜，英文的不少。国内张大同著，扫描电镜能谱应用值得看看，很容易搜到。
这些作者都是具有深厚材料科学知识背景，将一般通用的应用技术分享给大家。
关于你们的具体分析方向，我从这个角度讲一下：分析仪器用于分析某个非常具体的分析项目，往往需要花费很多功夫，研究分析方法，这个分析方法是可以注册专利的。要你说，别人会随便告诉你吗？很多时候，跨国企业研究中心，有什么仪器都不轻易告诉你，更不要提分析方法了。
---我从厂商应用工程师的角度【酷塞目-中国 驰奔】看这个问题。培训都是一般应用分析方法。
---你们的项目有点类似扫描电镜能谱在刑侦方面，枪击残留物分析；也类似洁净钢技术里的夹杂物分析；也类似矿石中不同矿物含量分析；严格的说，你们的分析属于洁净度分析。这些领域应用非常狭窄，具备这些深厚专业背景的人，将分析方法做成软件，将其结合到电镜能谱系统中，就能成立公司，来卖这个产品。

5、关于SEM扫描电镜的几个问题，求大神出现...

如果是即将开始学习仪器操作的管理人员，建议先系统学习理论知识，再找专业的仪器工程师培训。如果是学生，要使用电镜，从安全角度考虑，1、2、3几项通常是值机人员完成的。我可以简单的向你介绍一下：1、主要是电源，只要能正常开机，一般无问题；2、加高压前一般要达到额定真空，否则气体电离度大、损伤电子枪，但是电镜软件一般都已经设置好，不到工作真空，根本加不上去高压，所以只要能够加高压，也无其他特别的问题；做完电镜关闭高压，等30秒以上，待灯丝冷却后再放气为宜，主要也是为了保护电子枪；3、样品台有它的额定移动距离，包括平面方向和上下方向，平面方向移动到极限时会有报警提示，看到提示往回移动即可。高度方向也如此，但是要注意向上移动时，要缓慢，要防止坚硬的试样撞击上方的探测器和极靴，损坏设备；4，电子束与试样作用，可激发出多种信号，如二次电子信号（用于形貌观察），背散射电子信号（用于区分微区成分)、俄歇电子信号(用于表面元素分析）、特征X射线（用于内部元素分析）、阴极荧光（用于发光材料研究），这些信号已经被有效的加以利用，这是一门独立的学科，若需要详细了解，你需要系统地学习一下。

6、SEM扫描电镜图怎么看，图上各参数都代表什么意思

1、放大率：

与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

2、场深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积：

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离：

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象：

次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。

6、表面分析：

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法：

如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。

(6)扫描电镜sem日本电子扩展资料：

SEM扫描电镜图的分析方法：

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。

7、日本电子jsm-6510lv扫描电镜价格大概多少钱

日本电子JSM-6510LV 走查电子显微镜公开报价：170000美元 ，听说最大折扣可达65折，约为成交价格约为11万美元左右。
似乎6510、6010扫描电镜已经被新型号IT-100替代，
新的型号IT-100最高配置估值 10~15万美元

8、扫描电镜的se和bse模式有什么区别

收集信号不同。SE：二次电子；BSE：背散射电子

分辨率不同。SE：高；BSE：低

图像衬度不同。SE：形貌衬度；BSE：质厚衬度

应用目的不同。SE：围观立体形貌；BSE：元素、相二维分布