1、SEM 可以测成分吗
这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。
2、扫描电镜（SEM）能测出晶型吗
理论上单纯用SEM不能测出晶型，测晶型一般用XRD等仪器。扫描电镜只能观察形貌，分辨率可达亚微米级别。
不过对于特定的样品，如果具有明确的晶型，借助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一种物质只有区别明显的两种晶型，借助确定的形貌可以推断是那种晶型）。另外，SEM通过加装EBSD附件，通过观察也有可能观察晶型
3、请问磁性粒子想做SEM怎么制样？
我上次做磁性粒子直接做，没用溶剂滴
，喷下金直接做就好了
4、为什么扫描电镜不能测试具有磁性的粉末样品 而对块状样品则没有做过多要求
1、最重要的：样品不要撞到探头！2、放入样品前，必须固定好样品，避免专脱落，粉末属样品没粘牢的要吹掉，避免进入电子枪通道阻塞之；3、放入样品必须保证干燥。4、还有一些其他的就不算安全重点了，比如：控制好温湿度，震动、噪声不要太大，取放样品戴手套等等
5、Sem可以测非金属吗
老兄，你是说的扫描电子显微镜还是sem网络的优化呢?
前者可以运用到生物医学动物材料化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥等等至于后者根据我3年的从业经验，对于推广还是感觉百度的本地直通车还行。
6、怎么检测一个样品是不是磁性材料
用吸铁石吸一下就知道了，能被吸铁石吸住的是磁性材料，而不能被吸铁石吸住的就是非磁性材料。