1、扫描电镜的那个小台子怎么说
样品台 stage
2、扫描电镜中选了某个样品台后，为何从镜头中看着不是在正下方啊？是摄像头的原因？还是灯丝不对中啊？
你的扫描光栅电位移可能不在零位，
3、怎么区分电镜的样品台？什么情况下使用什么样的样品台？
形状不同的话应该是根据你的样品要测的信息，比如有直接看形貌的也有看侧面信息（如截面）等，材质不同不知道该如何区分。
4、sem se2模式和inlens模式的区别
SE1和SE2指的是不同的信号，不同的探测器，换句话说就是用不同的探测器接收不同的信号。
SE1是内置在镜筒的二次电子探头，有的型号蔡司电镜这个探头也叫Inlens，只接收SE1（入射电子束直接激发的二次电子，产生范围较小）。
SE2在场发射电镜中样品室内的样品台侧边二次电子探头，接收SE2（入射到样品中的电子激发出的二次电子，产生范围较大）。
因为SE1产生范围小，可以在小工作距离下工作，SE2产生范围大，需要一定的工作距离，因此SE1分辨率相对高一点
5、关于SEM扫描电镜的几个问题，求大神出现...
如果是即将开始学习仪器操作的管理人员，建议先系统学习理论知识，再找专业的仪器工程师培训。如果是学生，要使用电镜，从安全角度考虑，1、2、3几项通常是值机人员完成的。我可以简单的向你介绍一下：1、主要是电源，只要能正常开机，一般无问题；2、加高压前一般要达到额定真空，否则气体电离度大、损伤电子枪，但是电镜软件一般都已经设置好，不到工作真空，根本加不上去高压，所以只要能够加高压，也无其他特别的问题；做完电镜关闭高压，等30秒以上，待灯丝冷却后再放气为宜，主要也是为了保护电子枪；3、样品台有它的额定移动距离，包括平面方向和上下方向，平面方向移动到极限时会有报警提示，看到提示往回移动即可。高度方向也如此，但是要注意向上移动时，要缓慢，要防止坚硬的试样撞击上方的探测器和极靴，损坏设备；4，电子束与试样作用，可激发出多种信号，如二次电子信号（用于形貌观察），背散射电子信号（用于区分微区成分)、俄歇电子信号(用于表面元素分析）、特征X射线（用于内部元素分析）、阴极荧光（用于发光材料研究），这些信号已经被有效的加以利用，这是一门独立的学科，若需要详细了解，你需要系统地学习一下。
6、扫描电镜样品的处理
关键看你的实验目的是什么。
如果A样品和B样品是两个单独的实验，不用做横向对比，那么用不同的制样方法没有什么问题。
如果两个样品在合成制备过程中用了不用的方法或者条件，要用SEM做横向比对，制备的结果。那么，最好用同样的制样方法。否则，即使你在SEM下看到了明显不同的结果，你也难以判断是由于SEM制样方法不同造成的，还是，由于合成制备方法不同造成的影响。
如果超声是你样品合成制备过程的一部分，因而，有必要比较超声前和超声后样品的区别。那么，对于两个平行样品，一个样品经过超声处理，一个样品直接干燥，是很合理的实验安排。可以探讨超声过程（工艺）对最终结果的影响。
总之，对于SEM仪器或者这个表征手段来说，超声或者不超声，做出来的样品，是可以放到一起观察的。问题的关键在于你想知道什么。
7、请教各位怎样拍出大角度的SEM图
可以有3个方法：
1，制样的时候将样品倾斜放置。
2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。
3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图